ソリューション
場当たり的な対策から根拠を持った設計へ ―ESD耐性の設計の考え方―
コラムの目的
本コラムでは、電子機器開発において課題となるESD対策について以下の3回の構成に分けて解説します。
第1回：ESDの対策はなぜ難しいのか？
第2回：ESD試験ではどのような現象が起きているのか？
第3回：どのように設計段階で対策すべきか？
ESD規格の対応では、
- 発生する電流や空間を伝搬する電磁界を考慮した検討の難しさ
- 試験結果の再現性の確保の難しさ
があり、従来の試験中心の対策では原因特定に多くの時間を要します。
このような問題の原因を整理し、
放電により発生する現象を“見える形で理解する”ことの重要性
に焦点を当て、設計段階での対策アプローチを解説します。
EMCに関して具体的なご相談、ご依頼があれば、ぜひお気軽に以下のボタンからお問い合わせください。
コラム一覧
第１回 ESDの対策はなぜ難しいのか？
ESDの規格試験で再現性が取れずに困った経験はありませんか？
ここでは現場で直面する課題について記載しております。
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