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【Web配信】半導体製造プロセスにおけるCAEの活用事例ご紹介 ~後工程~

【Web配信】半導体製造プロセスにおけるCAEの活用事例ご紹介 ~後工程~の概要

  • 本ウェビナーは「設計」・「前工程」・「後工程」および製造後の「半導体パッケージ」の4つの工程に対するサイバネットのソリューションを全4回のウェビナーでご紹介しています。
  • 今回は第3回目となり、「後工程」に関する内容(均質化によるアンダーフィル物性予測、樹脂封止による不良予測、仮想センシングによる射出成型の良否判定精度向上など)をいくつかご紹介いたします。
  • 8月29日に、半導体製造プロセスに関する専用Webページ(https://www.cybernet.co.jp/ansys/solution/Semiconductor/index.html)を開設しました。こちらについても紹介いたします。
  • 11月下旬に、外部講演者を招いた半導体Webセミナーを開催します。ユーザーによる事例紹介や大学教員による基調講演を行う予定です。このセミナーについても紹介いたします。 


種類
Ansysウェビナー
受講料
無料

日程・お申し込み

参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。

※終了時刻は多少前後する場合がございます。

開催概要

開催会場

本イベントはZoomを用いたWebセミナー形式での開催となります。

定員数

150名

対象

・半導体製造プロセス後工程でシミュレーションを活用して高度化・効率化を図りたい方

製品

Ansys CFD/Ansys Mechanical

解析分野

熱流体解析 構造解析

参加費

無料 (事前登録制)

主催

サイバネットシステム株式会社

※お申し込みが最少開催人数に満たない場合は、中止になる可能性がございます。

アジェンダ

1.半導体製造プロセス全体ソリューション​

2.後工程​

3.半導体製造プロセスソリューションのWebページ​

4.半導体Webセミナーについて

5.当社支援サービスについて​

6.まとめ

必要なシステム要件

※プログラム/名称などは予告なく変更する場合がございます。

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