照明系シミュレーションにおいて精度を向上させるには、特に光源と散乱の設定に測定データを用いるというのが当たり前になってきています。
本セミナーでは、照明系シミュレーションの更なる精度向上を求めるお客様のご要望に応えるべく、弊社CAE第2事業部が取扱っている光源データや散乱データを取得するための測定器、及び、実物を作成して各種評価を行う際に有効な測定器をご紹介します。
今回、新しくご紹介します測定器や、昨年ご紹介した各測定器に新しく追加された機能の紹介も含まれます。測定ソリューション紹介セミナー2017にお越しいただいた方も、ぜひご参加ください!
※ご希望に応じて、ご参加いただいた方には後日、個別デモの実施も可能です!
参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。
日程 | 開催地 | 時間 | 受付状況 |
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2018/05/10(木) | 大阪 | 13:00〜17:00 (12:30 受付開始) | ![]() |
2018/05/11(金) | 名古屋 | 13:00〜17:00 (12:30 受付開始) | ![]() |
2018/05/16(水) | 東京 | 13:00〜17:00 (12:30 受付開始) | ![]() |
※参加お申し込みの受付は終了しました。
大阪 | 名古屋 | 東京 | |
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開催場所 | 弊社西日本支社 正面大会議室 | 弊社中部支社 セミナールーム | 富士ソフト アキバプラザ 6F セミナールーム |
定員 | 30名 | 20名 | 50名 |
参加費 | 無料 | ||
測定対象 |
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対象者 |
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主催 | サイバネットシステム株式会社 | ||
共催 | 大塚電子株式会社 様、株式会社トプコンテクノハウス 様、 キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様、株式会社光響 様、 フィルメトリクス株式会社 様、東京センチュリー株式会社 様 |
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併設展示(予告なく変更になる場合があります) |
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備考 | ご来場される際は、申込時に送付する受講票と、お名刺を1枚ご用意ください。 |
12:30 - 13:00 | 受付、併設展示スペース開放 |
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13:00 - 13:20 | 照明系シミュレーションに測定データが必要な理由 |
13:20 - 14:00 | 配光測定に関して(大塚電子株式会社 様) |
14:00 - 14:40 | 散乱測定に関して(サイバネットシステム株式会社) |
14:40 - 15:00 | 休憩、併設展示スペース開放 |
15:00 - 15:40 | 輝度/色度/分光測定に関して(株式会社トプコンテクノハウス 様) |
15:40 - 16:10 | 表面反射測定に関して(キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様) |
16:10 - 16:40 | ビームプロファイル測定に関して(株式会社光響 様) |
16:40 - 16:50 | 測定器の導入に伴うリース活用のご提案(東京センチュリー株式会社 様) |
16:50 - 17:00 | 質疑応答 |
17:00 - 17:30 | 終了、併設展示スペース開放 |