[参加無料]
測定ソリューション紹介セミナー2018
照明系シミュレーションにおいて精度を向上させるには、特に光源と散乱の設定に測定データを用いるというのが当たり前になってきています。
本セミナーでは、照明系シミュレーションの更なる精度向上を求めるお客様のご要望に応えるべく、弊社CAE第2事業部が取扱っている光源データや散乱データを取得するための測定器、及び、実物を作成して各種評価を行う際に有効な測定器をご紹介します。
〜こんな方におすすめ〜
- シミュレーション精度を上げたい
(光源のニアフィールドデータやBSDFデータを測定して活用したい) - 試作品や製品の配光、明るさ/色合い/ムラを定量評価したい
(配光分布を高速に取得したい、輝度/色度/分光測定したい) - 試作品や製品の目視による官能評価を定量評価に置換えたい
(光沢度/ヘイズ/写像性/拡散度を高速に評価したい、表面形状/膜厚を測定したい) - 大口径・高出力のビームプロファイルを測定したい
(多数のLEDや半導体レーザーの同時発光を評価したい)
今回、新しくご紹介します測定器や、昨年ご紹介した各測定器に新しく追加された機能の紹介も含まれます。測定ソリューション紹介セミナー2017にお越しいただいた方も、ぜひご参加ください！
※ご希望に応じて、ご参加いただいた方には後日、個別デモの実施も可能です！
『セミナー参加者限定の特典キャンペーン』があります！ 詳細はセミナー会場にて。
紹介製品
取扱い測定器一覧
◆散乱測定、表面反射測定
◆輝度/色度/分光測定
◆配光測定、ビーム測定
◆表面形状測定、膜厚測定
- 分光膜厚測定システム Ｆシリーズ
- 3D表面形状測定システム Profilm3D
日程・お申し込み
参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。
| 日程 | 開催地 | 時間 | 受付状況 |
|---|---|---|---|
| 2018/05/10（木） | 大阪 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） |  |
| 2018/05/11（金） | 名古屋 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） | |
| 2018/05/16（水） | 東京 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） | |
※参加お申し込みの受付は終了しました。
開催概要
| 大阪 | 名古屋 | 東京 | |
|---|---|---|---|
| 開催場所 | 弊社西日本支社 正面大会議室 | 弊社中部支社 セミナールーム | 富士ソフト アキバプラザ 6F セミナールーム |
| 定員 | 30名 | 20名 | 50名 |
| 参加費 | 無料 | ||
| 測定対象 |
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| 対象者 |
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| 主催 | サイバネットシステム株式会社 | ||
| 共催 | 大塚電子株式会社 様、株式会社トプコンテクノハウス 様、 キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様、株式会社光響 様、 フィルメトリクス株式会社 様、東京センチュリー株式会社 様 |
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| 併設展示(予告なく変更になる場合があります) |
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| 備考 | ご来場される際は、申込時に送付する受講票と、お名刺を1枚ご用意ください。 | ||
タイムテーブル(予告なく変更になる場合があります)
| 12:30 - 13:00 | 受付、併設展示スペース開放 |
|---|---|
| 13:00 - 13:20 | 照明系シミュレーションに測定データが必要な理由 |
| 13:20 - 14:00 | 配光測定に関して（大塚電子株式会社 様） |
| 14:00 - 14:40 | 散乱測定に関して（サイバネットシステム株式会社） |
| 14:40 - 15:00 | 休憩、併設展示スペース開放 |
| 15:00 - 15:40 | 輝度/色度/分光測定に関して（株式会社トプコンテクノハウス 様） |
| 15:40 - 16:10 | 表面反射測定に関して（キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様） |
| 16:10 - 16:40 | ビームプロファイル測定に関して（株式会社光響 様） |
| 16:40 - 16:50 | 測定器の導入に伴うリース活用のご提案（東京センチュリー株式会社 様） |
| 16:50 - 17:00 | 質疑応答 |
| 17:00 - 17:30 | 終了、併設展示スペース開放 |
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