3次元光学解析ソフトウェア Ansys Speos
Ansys Speosは、照明光学製品の光学解析ソフトウェアです。ディスプレイ、プロジェクター、LED照明をはじめとしたあらゆるアプリケーションに対応し、光学性能やデザイン品質の向上を支援します。
製品情報
PRODUCT製品情報
弊社が取り扱っている多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご紹介いたします。
製品のカタログはダウンロードできます。
光デバイスの設計評価に役立つ製品のカタログ
光学シミュレーションツール
自動運転車シミュレーション Ansys AVxcelerate
Ansys AVxcelerateではインテリジェントランプの評価、制御を仮想環境で行えます。リアルタイムシステムループの開発を支援します。
フォトニクス解析ソフトウェア Ansys Lumerical
Ansys Lumericalは、フォトニックデバイス、システムの開発を支援する解析ソフトウェアを備えたパッケージです。
光学設計ソフトウェア Ansys Zemax OpticStudio
Ansys Zemax OpticStudioは光学製品の設計ソフトウェアです。結像光学系、照明光学系、レーザー光学系などアプリケーションを問わずモデリングができ、性能解析や最適化設計機能で開発を支援します。
有機EL・太陽電池シミュレータ Setfos
Setfosは多層薄膜構造を持つ有機EL・太陽電池を解析対象としたソフトウェアで、多層構造による光学的および電気的な影響を考慮したシミュレーションを行い、有機EL・有機太陽電池・ペロブスカイト太陽電池などの研究開発を支援します。
大面積半導体デバイスシミュレータ Laoss
Laoss は、パネルのような大面積有機EL・太陽電池のシミュレーションソフトウェアで、電極における電圧降下などの電気シミュレーションや、光線追跡法による光学シミュレーションが可能です。
微細構造・メタサーフェス解析ソフトウェア PlanOpSim
メタサーフェスや回折光学素子などの微細構造を持つ光学素子の設計・開発用のソフトウェア PlanOpSimをご紹介いたします。簡単な操作でユニットセルの解析から集光特性の解析まで一貫して行うことが可能です。
光学測定機器
2D分光放射計 SR-5100
SR-5100は、従来スポットで測定していた分光測定を、面で一括測定できる2D分光放射計です。500万画素に及ぶ高解像度で170億cd/m2までの高輝度分光特性を1nm毎で評価することが可能です。
顕微分光膜厚計 OPTM series
OPTM Seriesは顕微分光法により薄膜やフィルムの反分光射率を計測することで、測定対象の紫外〜可視〜近赤外までの物質の特性を解析します。
光学式三次元表面プロファイラー smartWLI シリーズ
smartWLI シリーズは、GBS社(本社:ドイツ)の光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーです。高解像度カメラ、GPUを用いた高速演算処理を活用し、高精細・高スルートップな非接触三次元表面性状測定を実現します。
フィゾー型レーザー干渉計 Apre Sシリーズ
Apre Sシリーズは、米国アプレ社が製品化したフィゾー型レーザー干渉計です。精密加工部品の表面形状、中間空間周波数凹凸成分の測定にも効果を発揮し、高品質の計測を実現します。
非接触分光膜厚測定器 Fシリーズ
Fシリーズは、光の干渉を利用した非接触膜厚測定システムです。用途に応じて幅広い測定方式に対応します。
大口径・高出力対応ビームプロファイラ LaseView-LHB
LaseView-LHBは、レーザーやLEDなどの光源から出射される光の特性を計測・評価する装置です。ビーム径や空間的な強度分布、拡がり角、経時変化などを測定できます。
有機EL・太陽電池デバイスの電気・光学特性測定器 Paios
Paiosは、有機EL・太陽電池デバイスの電気・光学特性を測定する装置で、1クリックで電流電圧特性からインピーダンス分光・CELIV・過渡ELなどの過渡測定まで、多岐にわたる実験が可能です。
輝度配光スペクトル測定器 Phelos
Phelosは有機ELの発光スペクトルや有機薄膜のPLを広範囲の角度で自動で測定することが可能です。ボトムエミッション素子に対しては半円筒形のレンズと組み合わせることで基板を導波する光も取り出して測定することが可能です。
デバイス寿命測定器 Litos / Litos Lite
Litosは有機EL・太陽電池のデバイス寿命を、Litos Liteは太陽電池のデバイス寿命を測定する装置です。一定電圧・一定電流・最大電力点追従など様々な負荷条件が設定可能です。
3D表面形状測定システム Profilm3D
Profilm3Dは、ナノレベルの精度で粗さ・段差などの表面形状を非接触で測定するシステムです。目的のエリア、サイズで測定が行えます。高精度の白色干渉方式の測定システムでありながら低価格を実現しています。
光散乱・配光測定装置 ゴニオフォトメータ GP-4
ゴニオフォトメータ GP-4は、サンプルを水平に置き、受光器をθφ⽅向に回転させて半球の透過・反射散乱を測定します。発光体の配光測定も半球を３次元測定します。標準白色板で校正を行なうことにより、サンプルのBSDF (双⽅向散乱分布関数、Bidirectional Scattering Distribution Function)と反射率を測定できます。