弊社が取り扱っている多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご紹介いたします。
製品のカタログはダウンロードできます。
光デバイスの設計評価に役立つ製品のカタログダウンロード
◆ 3次元光学解析ソフトウェア
3次元光学解析ソフトウェア Ansys Speos
◆ 自動運転車シミュレーション
自動運転車シミュレーション Ansys AVxcelerate
◆フォトニクス解析ソフトウェア
フォトニクス解析ソフトウェア Ansys Lumerical
◆光学設計ソフトウェア
光学設計ソフトウェア Zemax OpticStudio
◆有機EL/太陽電池関連ソフトウェア
有機EL・太陽電池シミュレータ Setfos
大面積半導体デバイスシミュレータ Laoss
◆光学エンジニアリングサービス
光学エンジニアリングサービス
◆取扱い測定機器
測定機器情報
◆散乱測定、表面反射測定
表面反射アナライザー RA-532H
◆輝度/色度/分光測定
2D分光放射計 SR-5100
◆配光測定、ビーム測定
大口径・高出力対応ビームプロファイラ LaseView-LHB
◆表面形状測定
分光膜厚測定システム Fシリーズ
3D表面形状測定システム Profilm3D
Ansys Speosでは3次元ダイレクトモデラー「Ansys SpaceClaim®(アンシス スペースクレイム)」、および専用の光学設計ツールにより柔軟で高速な光学設計を可能にします。また、迷光、ホットスポット、均一性を正確に予測してシステムの性能を確保したり、様々な波長域での照度や光度、輝度の評価をしたりすることが可能です。さらに光源や散乱現象を測定しシミュレーションに利用することで材料や光源の選択を検証し、システムが設計要件に合致するかを確認できます。
Ansys AVxcelerateは、自動運転技術を取り込んだ自動車やロボット、ドローンなどのセンシング制御システムや、ADBに代表されるインテリジェントヘッドランプの開発を支援する「シミュレーションソフトウェア」の総合パッケージです。様々なシーンにおけるカメラ、LiDAR、レーダーセンシングと制御システムの動作検証を行える「Sensors」、次世代型ヘッドランプの配光パターン動的制御をシミュレーションできる「Headlamp」などがあります。あらゆる条件における膨大な数のテスト検証を仮想的に実現することで、開発期間の短縮やコスト削減を支援します。
Ansys Lumericalは、フォトニックデバイス・システムの解析ソフトウェアを備えたパッケージです。「Device Suite」、「System Suite」、自動化・最適化・ソフトウェア連携ツールである「Interoperability」から構成されており、デバイスからシステムレベルのシミュレーションを一貫して行うことができます。また、多くの外部ソフトウェアとの連携機能や、python とのAPI機能を持ち、マルチフィジックス解析や自動化・最適化が可能です。
ZemaxソフトウェアはOpticStudioに代表される光学設計機能だけでなく、その設計データをメカ設計、製造現場でもシームレスに活用できるワークフローを提供しています。
開発プロジェクトにおいて一貫してZemaxが利用できるため、お客様のスムーズな光学製品開発をサポートします。
Paiosは、たった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。
Setfosとは、「semiconducting emissive thin film optics simulator」の略で、有機ELデバイスの光学モデルと電気モデルを包括的に解析することができるソフトウェアです。まだまだ有機ELデバイスに用いられる材料物性の定義や理論が確立していない現状を踏まえた上で、ユーザビリティを高くして、一般的によく知られている理論をベースに解析できる仕様になっています。また、デバイス特性や実験データの比較検証を手助けする解析機能が充実しており、有機ELにかかわる研究の支援ツールとして最適です。
大面積半導体デバイス(有機EL、太陽電池)のシミュレーションソフトウェアです。デバイスサイズの大型化に伴って発生する電圧降下を計算して、電極の形状を最適化したり、高い導電性グリッドにより生じるシャドーイング効果とオーム損失の両方を最小化したりすることが出来ます。2D FEM(有限要素モデル)と、電流-電圧法則を記述する1Dモデル入力を組み合わせて、高速で精度の高い計算が可能です。
Phelosは、OLEDのスペクトルを広範囲の角度で自動で測定します。発光効率を計算したり、偏光特性の測定・解析により、デバイス内部の発光分子などのパラメータ情報を得ることが可能です。Phelosはスタンドアローンの測定器として、或いはPaiosの電気測定プラットフォームと接続して使用することもできます。
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィルムや多膜層を非破壊・非接触で測定できます。
測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で、初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
散乱、表面反射、輝度/色度/分光、配光、ビームプロファイル、表面形状、膜厚など、光学に関する幅広い測定器を取扱っております。
測定機器情報サイト
光学委託設計・解析、光源・材質特性の測定、および教育・コンサルティングなど、光学に関する幅広いサービスを提供しております。