弊社が取り扱っている多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご紹介いたします。
製品のカタログはダウンロードできます。
光デバイスの設計評価に役立つ製品のカタログダウンロード
◆取扱いワークステーション(解析用PC)
ワークステーション(解析用PC)情報
◆取扱い測定機器
測定機器情報
◆散乱測定、表面反射測定
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff V2
高精度散乱測定器 REFLET
表面反射アナライザー RA-532H
◆輝度/色度/分光測定
2D分光放射計 SR-5000
◆配光測定、ビーム測定
大口径・高出力対応ビームプロファイラ LaseView-LHB
◆表面形状測定
分光膜厚測定システム Fシリーズ
3D表面形状測定システム Profilm3D
光通信や光ピックアップ、医療機器、カメラ、航空宇宙機器などの幅広い分野で必要とされる光学素子の設計評価プログラムです。光学系の設計、評価、製造支援と、包括的に光学エンジニアリング業務をサポートします。豊富な解析/評価オプションとWindowsライクな使いやすいユーザインターフェースにより、光学設計初心者から経験豊かな技術者の方までのあらゆるニーズを満たし、業界標準として利用されています。
3D CAD機能内蔵の、本格的な照明設計解析ソフトウェアです。光線を追跡して結果を出力する機能と高度なモデリング機能を分かりやすいインターフェースで提供しており、設計・解析・評価のすべてを行うことが可能です。液晶ディスプレイ用バックライト導光板、プロジェクタ、自動車の車内外照明、ライトパイプなど幅広い分野で利用されています。
LucidShapeは、照明設計業務のための最も強力で先進的なコンピューター支援設計ソフトウェアです。その使いやすくとても広範なユーザーインターフェースにより、世界中のエンジニアが非常に短時間であらゆる種類のリフレクターやその他の照明製品を作成できます。高度に革新的なFunGeo(Functional Geometry)機能により高速に自動車用ヘッドランプやテールランプの設計できます。さらにはデータ変換によりほとんどすべてのCADプログラム(例:CATIA、Rhinoなど)から取り込むことができます。
Mini-Diffは手頃な価格と、場所をとらない扱いやすいコンパクトサイズで、簡単に光学部材の散乱特性を測定をすることが可能です。また、開発元のライトテック社は「照明解析ソフトウェアLightTools」のヨーロッパ主要国の代理店であることを生かし、LightToolsとの親和性が高い製品開発を行っております。
paiosは、たった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。
Setfosとは、「semiconducting emissive thin film optics simulator」の略で、有機ELデバイスの光学モデルと電気モデルを包括的に解析することができるソフトウェアです。まだまだ有機ELデバイスに用いられる材料物性の定義や理論が確立していない現状を踏まえた上で、ユーザビリティを高くして、一般的によく知られている理論をベースに解析できる仕様になっています。また、デバイス特性や実験データの比較検証を手助けする解析機能が充実しており、有機ELにかかわる研究の支援ツールとして最適です。
大面積半導体デバイス(有機EL、太陽電池)のシミュレーションソフトウェアです。デバイスサイズの大型化に伴って発生する電圧降下を計算して、電極の形状を最適化したり、高い導電性グリッドにより生じるシャドーイング効果とオーム損失の両方を最小化したりすることが出来ます。2D FEM(有限要素モデル)と、電流-電圧法則を記述する1Dモデル入力を組み合わせて、高速で精度の高い計算が可能です。
RSoft Photonic device toolsでは、光通信、オプトエレクトロニクス、半導体製造などに向けた、パッシブおよびアクティブなフォトニック・デバイスの設計・解析が行えます。CAD環境、シミュレーション・エンジン、最適化ユーティリティが含まれます。
Phelosは、OLEDのスペクトルを広範囲の角度で自動で測定します。発光効率を計算したり、偏光特性の測定・解析により、デバイス内部の発光分子などのパラメータ情報を得ることが可能です。Phelosはスタンドアローンの測定器として、或いはPaiosの電気測定プラットフォームと接続して使用することもできます。
RSoft Photonic System Toolsでは、現行または次世代の光通信システムの設計・解析を、信号伝送、ネットワーク・アーキテクチャ、パケットといった階層で行えます。
顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。各種フィルムや多膜層を非破壊・非接触で測定できます。
測定時間は1秒/pointの高速測定が可能で、初めての方でも簡単に光学定数の解析ができるソフトウェアを搭載しています。
PIC Design Suiteでは、シリコンフォト二クスに代表される光ICのシミュレーションとマスクレイアウト作成を行えます。ファウンドリから提供されるPDKを利用することができ、OptSim Circuitを用いて回路図(Schematic)レベルのデバイス設計と光学シミュレーションを行い、作成した回路図情報をOptoDesignerで読み込むことでファウンドリに依頼する際に必要なマスクレイアウトを作成することができます。
散乱、表面反射、輝度/色度/分光、配光、ビームプロファイル、表面形状、膜厚など、光学に関する幅広い測定器を取扱っております。
測定機器情報サイト
光学設計、シミュレーション解析、光源・材質特性の測定、および教育・コンサルティングなど、光学に関する幅広いサービスを提供しております。