半導体検査用コンタクトプローブの応力/疲労寿命評価

半導体コンタクトプローブは、半導体の導通検査を実施する検査器具です。数十万から数百万回繰り返し使用されます。
長期間にわたる均一な検査精度を維持するには、接触サイクルに耐えるような高い耐久性が求められます。そしてそのためには、材料の選定や設計の工夫が不可欠です。
シミュレーションを使用すると、実機では確認できない変形、応力、疲労寿命の可視化を行えます。
従って材料や形状を変えながらシミュレーションを行うことで、半導体コンタクトプローブの性能改善を効率よく行えます。