解析事例
電子機器の放射イミュニティ解析事例
こんな方におすすめ
- 外来ノイズに弱い構造を事前に見極め、回路・基板・筐体設計段階で対策を盛り込みたい。
- 実機で問題となっている放射イミュニティの現象を可視化したい。
外部ノイズに対する耐性の問題は、放射イミュニティ試験時に初めて認識されるケースが多く、規定の性能を満足するためには多数の対策部品や実機検討工数が必要となります。電磁界解析を活用することにより設計段階で電磁界の振る舞いを可視化することができ、外来ノイズに対する耐性の高い製品設計に貢献します。本事例では3方向から平面波を電子機器(ノートPC)に照射し、影響の高い箇所に対策を盛り込み、対策前後でセット近傍の電磁界分布を比較します。
解析モデル

解析条件
- 解析周波数範囲:80-1000MHz
- 入力条件:10V/m(平面波)
解析結果(初期結果)
特に930MHzにおいて顕著に電界レベルが高い
改善案
対策後の解析結果
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