測定ソリューション紹介セミナー(参加無料)
これまでサイバネットシステム(株)では、主にシミュレーションソフトの販売に注力してきました。一方で、照明系シミュレーションにおいて精度を向上させるには、特に光源と散乱の設定に測定データを用いるというのが当たり前になってきています。
そこで、弊社CAE第2事業部では、照明系シミュレーションの更なる精度向上を求めるお客様のご要望に応えるべく、各種データ測定器の取扱いを始めております。
また、実際に物を作った際の評価を行うための測定器も取扱い始めております。
本セミナーでは、これらの測定器についてご紹介いたします。
対象者
以下のような目的をお持ちの方は、ぜひ参加をご検討ください！
- シミュレーション精度を上げたい
（散乱分布の測定および活用について） - 試作品 / 製品の配光、明るさ / 色合い / ムラ等を定量評価したい
（配光分布を高速に取得したい、輝度 / 色度 / 分光測定したい）
日程・お申し込み
参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。
| 日程 | 開催地 | 時間 | 受付状況 |
|---|---|---|---|
| 2017/07/11（火） | 大阪 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） |  |
| 2017/07/12（水） | 名古屋 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） | |
| 2017/07/25（火） | 東京 | 13：00〜17：00 （12:30 受付開始） | |
※参加お申し込みの受付は終了しました。
開催概要
| 大阪 | 名古屋 | 東京 | |
|---|---|---|---|
| 開催場所 | 弊社西日本支社 正面大会議室 | 弊社中部支社 セミナールーム | 富士ソフト アキバプラザ 7F EXルーム |
| 定員 | 30名 | 20名 | 50名 |
| 参加費 | 無料 | ||
| 測定対象 |
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| 対象者 |
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| 主催 | サイバネットシステム株式会社 | ||
| 共催 | 株式会社トプコンテクノハウス 様、大塚電子株式会社 様、キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様、東京センチュリー株式会社 様 | ||
| 併設展示(予告なく変更になる場合があります) |
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| 備考 | ご来場される際は、申込時に送付する受講票と、お名刺を1枚ご用意ください。 | ||
紹介製品
- 高精度散乱測定器 REFLET
- 小型簡易散乱測定器 Mini-Diff
- 高速ニアフィールド配光測定システム GP-7
- 2D分光放射計 SR-5000
- 表面反射アナライザー RA-532H
タイムテーブル(予告なく変更になる場合があります)
| 12:30 - 13:00 | 受付、併設展示スペース開放 |
|---|---|
| 13:00 - 13:20 | 照明系シミュレーションに測定データが必要な理由 |
| 13:20 - 14:10 | 散乱測定に関して（サイバネットシステム株式会社） |
| 14:10 - 14:30 | 表面反射測定に関して（キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様） |
| 14:30 - 14:50 | 休憩、併設展示スペース開放 |
| 14:50 - 15:35 | 配光測定に関して（大塚電子株式会社 様） |
| 15:35 - 16:40 | 輝度/色度/分光測定に関して（株式会社トプコンテクノハウス 様） |
| 16:40 - 16:50 | 測定器の導入に伴うリース活用のご提案（東京センチュリー株式会社 様） |
| 16:50 - 17:00 | 質疑応答 |
| 17:00 - 17:30 | 終了、併設展示スペース開放 |
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