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再現性の高い連続落下解析ソリューション

~Ansys LS-DYNAによる連続落下試験の再現~

このようなニーズはありませんか?

・連続落下シミュレーション精度を向上させたい
・残留応力や永久変形を考慮して、連続落下現象を解析で再現したい

モバイル電子機器や梱包材の開発では、多数の落下試験が必要となり、試作コストやリードタイム増大が課題です。
軽量化や高密度化により衝撃挙動は複雑化し、実機試験だけでは損傷原因の把握が難しい場合があります。
そこでCAEによる落下シミュレーションが有効となり、設計初期から条件検討や弱点把握が可能になります。
ただし、連続落下の場合による残留応力や永久変形の影響を考慮する必要があることが課題です。

ソリューションの概要と特長

本ソリューションは、モバイル電子機器や梱包材などにおける連続落下による形状変化を、Ansys LS-DYNAによる解析で実施し、試験回数の削減を実現します。

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