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解析事例

電磁界解析

IBIS-AMIモデルを用いた表面の粗さ考慮アイパターン解析

表面の粗さとストリップ線路長を変えた場合の差動Sパラメータ(Sd2d1)解析結果、および表面の粗さを考慮したアイダイアグラム解析事例を紹介します。

解析結果

図1は表面の粗さとストリップ線路長を変えた場合の差動Sパラメータ(Sd2d1)解析結果を示したものです。
図2は表面の粗さを考慮し、0umと6umの場合のアイダイアグラム解析結果を示したものです。

図1 表面の粗さとストリップ線路長を変えた場合の差動Sパラメータ(Sd2d1)解析結果

図2 表面の粗さを考慮したアイダイアグラム解析結果

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