測定機器情報

高精度散乱測定器REFLET

REFLETは全世界で100台以上の実績を持つ高精度散乱測定器です。
任意の測定サンプルの2D/3Dの散乱分布(BRDF/BTDF)を高速かつ簡便に測定出来ます。
測定データは、LightToolsやLucidShapeなどの照明系シミュレーションツールに取込み可能な形式でファイル出力することができます。

• 高速測定(1軸2Dスキャン：180°測定に約45秒)
• 高ダイナミックレンジ(最大10*e9)
• 可視光から近赤外領域までをカバー
• LightToolsフォーマットへのデータ出力

• レンダリングに必要な分光特性の正確な測定
• 照明設計に必要な反射材質の特性評価
• 自動車の灯体設計に必要な反射材質の特性評価
• 分光と反射特性から分かる化粧品の特性指標
• 液晶ディスプレイで利用する拡散シート類
• 透過ガラスの散乱特性

• BSDF(BRDF/BTDF)測定

REFLET製品サイト

高速簡易散乱測定器Mini-Diff VPro

Mini-Diff VProはMini-Diff V2の特長をそのままに、更に高性能、簡便さを求めたMini-Diffシリーズの最新バージョンです。 Mini-Diff VProは、誰もが簡単に扱えるMini-Diffの特徴はそのままに、光源の入射角度を自由に(0〜60度の範囲内で)設定できるようになりました。さらには、ダイナミックレンジが一桁上がっており、より高精度なデータ測定に対応します。

• 受光部にCCDカメラを採用し、一回の測定で半球分の散乱データを取得可能
• 複数の入射角度での散乱測定が可能(反射・透過：0〜60度(可変))
• 複数の波長での散乱測定が可能(465nm, 525nm, 630nm)
• 高速測定(10秒[AOI/Color])
• 通常の測定器では面倒なサンプル設置が簡単

• LCDバックライトの拡散シート
• リフレクターの散乱特性(照明デザイン)
• リフレクター・拡散板の散乱特性(自動車内外装デザイン)
• 再帰反射性シート

• BSDF(BRDF/BTDF)測定

Mini-Diff VPro製品サイト

高速ニアフィールド配光測定システムRHシリーズ

�@製品概要

RHシリーズは光源単体や光学材料の配光を評価するゴニオ式の配光測定装置です。1回の測定であらゆる空間照度を測定し配光分布、任意の距離での照度分布に変換できます。1.5m角に収まるコンパクトな装置サイズで暗室不要です。

• 照明設計ソフトLightTools用光源データ出力が可能
• 従来の測定器と比較して大幅に測定時間を短縮(10分)
• ニアフィールド測定が可能
• 任意の位置・距離での照度・光度の算出が可能＝ファーフィールドへの変換

• 自動車ヘッドランプ、ルームランプなどの灯火器
• 街路灯、投光器、スポットライトなど
• 有機ELや液晶などのディスプレイ視野角特性
• 赤外線センサーの配光特性

• 輝度光線データ
• 照度/光度/配光データ

RHシリーズ製品資料
RHシリーズ色度測定資料
LiDAR測定、UV/NIR測定事例
RH50 微小光源測定器

大口径・高出力対応ビームプロファイラLaseView-LHB

�@製品概要

LaseView-LHBは測定する大口径ビームをスクリーンに照射し、スクリーンからの散乱光を後方からCCDカメラで撮影することにより、大口径ビームの測定を可能にしております。特殊なスクリーンを採用することで、100 W/cm2以上の高強度ビームの直接入射を可能にし、高い分解能と感度均一性を実現した測定器です。レーザーをはじめ様々な用途のプロファイルを瞬時に確認する事ができます。

• ビームを受ける大口径スクリーンを採用
• スキャニングするレーザーなどを測定可能
• 波長域が可視〜赤外(〜1700nm)まで対応可能(※カスタム対応)
• 多段LEDのパルス発光評価

• レーザーやLEDなどの光源
• 光ファイバー
• レーザープロジェクタのスキャン評価
• 回折レーザー光

• ビームプロファイル/広がり角の測定
• ビームの経時変化/品質測定

LaseView-LHB製品資料

シミューレーションソフトCODE Vとの連携資料

光学式三次元表面プロファイラー smartWLI シリーズ

�@製品概要

GBS社(本社:ドイツ)の光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーは、三次元表面性状の国際規格ISO25178-604で定義されるCSI(垂直走査低コヒーレンス干渉法)に準じた製品です。
高解像度カメラ、GPUを用いた高速演算処理を活用し、高精細・高スループットな非接触三次元表面性状測定を実現します。
高いフレキシビリティを持つ計測ヘッドは測定対象物に適したカスタム仕様を可能にし、様々なアプリケーションでの豊富な導入実績があります。

• GPU(NVIDIAR等)の採用による高スループットを実現
• 高精細カメラ(5M＠86Hz)orハイスピードカメラ(2.28M＠170Hz)の選択可能
• 解析ソフトとして業界標準のMountainsMapR(Digital Surf社)を採用
• 自由度の高いシステム導入を実現した小型ヘッド(210mm × 58mm × 105mm、2kg)
• 5mmまでのスキャニングを可能にする電動モーター走査の選択可能
• 2種の測定モードを標準搭載

• マイクロレンズアレイ
• 結晶欠陥の検出プロセス
• (自動車エンジンの)シリンダー内壁測定
• マイクロエレクトロニクス

• 表面の粗さ測定

smartWLI シリーズ製品資料

分光膜厚測定システムＦシリーズ

�@製品概要

Fシリーズは光の干渉を利用した反射率分光方式の非接触膜厚測定システムです。
膜厚測定器本体には光源と分光器が内蔵されています。光源からの光がステージ上の測定サンプルに照射され、測定サンプル表面からの反射光と境界面からの反射光とが分光器に入り、二つの反射光が干渉して生じた干渉スペクトラムを基に膜厚を解析します。
小型ながら高速かつ短時間で測定できるように設計されています。

• シングルポイント膜厚測定システム：透明、半透明の膜の厚みをワンクリックで簡単に測定可能
• 顕微鏡式膜厚測定システム：紫外(200nm〜)や赤外(〜1700m,)に対応のモデルもあり(汎用顕微鏡にも対応可能)
• 自動マッピング膜厚測定システム：自動でウエハーの複数のポイントを測定可能

• 半導体
• フラットパネル
• フィルム
• レンズ(ヘッドライト、メガネ、など)
• 医療器具(ステント、注射針、など)

• 膜厚、屈折率、反射率
• 透過率(オプション)

輝度配光スペクトル測定器Phelos

�@製品概要

PhelosはOLEDのスペクトルを広範囲の角度で自動で測定することが出来ます。発光効率を計算したり、偏光特性の測定・解析により、デバイス内部の発光分子などのパラメータ情報を得ることが出来ます。またPhelosはスタンドアローンの測定器として、或いはPaiosの電気測定プラットフォームと接続して使用することも出来ます。

• Phelosによる測定とSetfosによるシミュレーションを簡単に統合可能
• 放射スペクトルの角度変化から、エミッタ分子の向きと位置の導出
• 実験とシミュレーションを組み合わせてデバイスの内部での振舞いを分析
• 光学マイクロキャビティ放射モデルとの統合による測定結果のシミュレーション

• OLED

• 効率測定：EQE、Lm/W、Cd/A(luminous efficacy)
• 角度ごとのスペクトル・色座標
• IVL(電流電圧輝度)特性
• 光ルミネセンス
• 偏光

Phelos製品サイト

フィゾー型　レーザー干渉計 Apre Sシリーズ

�@製品概要

米国 アプレ社が製品化したフィゾー型レーザー干渉計。
光学部品の製造プロセスを進化させ、現在から未来に渡る計測ニーズに対応。
精密加工部品の表面形状、中間空間周波数凹凸成分の測定にも効果を発揮、高品質の計測を実現する最新鋭レーザー干渉計です。

• 回折限界までのイメージ分解能の向上
• 画像湾曲(フォーカス方向誤差)の最小化
• 画像歪み(水平方向誤差)の低減
• 干渉計内部のリトレースエラーを最小化

• カメラレンズ(球面レンズの曲率半径測/光学性能測定)
• 光学平面基板
• 各種光学プリズム
• 硝材のホモジニティ(光学的均質性)
• SiWF/マスク基盤表面等

• 光学反射面の粗さ・歪みの測定

Apre Sシリーズ製品資料