測定機器情報

小型簡易散乱測定器Mini-Diff V2

Mini-Diffは手頃な価格と場所をとらない扱いやすいコンパクトサイズで、簡単に光学部材の散乱を測定することが出来ます。
また、測定データをLightToolsやLucidShapeを始めZEMAX、TracePRO、Reluxソフトウェア上にも簡単に取り込むことができます。

• 受光部にCCDカメラを採用し、一回の測定で半球分の散乱データを取得可能
• 複数の入射角度での散乱測定が可能（反射：0,20,40,60度、透過：0,20,40,60度）
• 複数の波長での散乱測定が可能（465nm, 525nm, 630nm)
• 小型・軽量・USBバスパワーにより場所を選ばずに使用可能

• LCDバックライトの拡散シート
• リフレクターの散乱特性(照明デザイン)
• リフレクター・拡散板の散乱特性(自動車内外装デザイン)
• 再帰反射性シート
• 屋外に存在する様々な物の散乱特性

• BSDF（BRDF/BTDF）測定

Mini-Diff V2製品サイト

表面反射アナライザーRA-532H

�@製品概要

RA-532Hは商品表面の質感を定量化するために5つの指標（光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度、BRDF）を一括測定するコンパクトな測定器です。測定器に搭載されている観測カメラを用いると評価ポイントの位置合わせも容易に行えるため、測定から結果までを短時間で行えます。

• 観測カメラ搭載で、測定箇所を観測しながら測定可能
• 1回の測定で、光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度の4つの指標＋2次元のBRDFを一度に出力可能
• キヤノン独自指標によりメタリックフレークや塗装色の影響による、絶対値がオフセットする欠点を回避。像鮮明性を判定可能
• 鏡面から完全拡散面まで幅広い対象物を測定可能

• 印刷物
• ディスプレイ
• 塗装面
• 自動車塗装面やコーティング面
• フィルム

• 光沢度
• ヘイズ
• 写像性
• 拡散度
• BRDF(20°/60°)

RA-532H製品資料

2D分光放射計SR-5000

�@製品概要

SR-5000は面一括で分光放射を測定できるハイパースペクトル計測方式を採用した測定器です。国家標準に直結したトレーサビリティを確立しています。
専用ソフトウェアにて、任意の測定スポットにおける分光スペクトルの重ね合わせによる比較や、異なる光源下における「物体色シミュレーション」、年齢別分光感度や視覚特性に対応した「視認性シュミレーション」を行うこともできます。
その他、超低輝度対応機、近赤外対応機、2D色彩輝度計、なども取り扱っております。

• 1nm毎の分光測光方式
• XYZフィルタ方式での測定も可能なハイブリッドタイプもあり
• マクロレンズタイプでは、サブピクセル単位での分光測定が可能であり、絶対値精度は点輝度計と同等

• ディスプレイ（LCD、OLEDなど）の輝度、色度ムラ、分光スペクトルの評価
• 自動車内外装（インパネ、HUD、DRL、リアランプ、など）の発光分布特性、分光スペクトルの評価
• 光源（LED、マイクロLED、OLED、マイクロLEDなど）の発光部の輝度、色度ムラ、発光スペクトルの評価
• 物体色（塗装、自動車内装部材、など）の色ムラの可視化
• 透明部材（光学膜、フィルム、など）の干渉縞、分光透過率の評価
• タッチセンサーのモアレの評価
• 半導体ウエハの塗布材料の膜厚解析
• レーザースキャン（LiDAR、など）の分光測定
• VRシステムの輝度、色度、面内ムラの簡易評価（相対値管理）

• 分光スペクトル
• 輝度
• 色度

SR-5000製品資料
OLED/LEDチップ測定事例
製品ラインナップ

3D表面形状測定システムProfilm3D

�@製品概要

Profilm3Dは、垂直走査白色干渉法と位相シフト干渉法を組み合わせ、ナノレベルの精度で粗さ・段差などの表面形状を非接触で測定するシステムです。XY自動ステージおよびオプションの対物レンズを用いる事により、目的のエリア、サイズで測定が行えます。高精度の白色干渉方式の測定システムでありながら低価格を実現しています。

• ナノレベルの高い精度とスピーディーな測定
• 50nm-10mmの3次元形状を測定
• 光干渉の原理を用いた非接触測定
• マウス操作でオペレーションが容易
• 10倍レンズ使用時2mm角のワイドな視野
• デジタルズーム併用で様々な測定条件に対応
• コンパクト(卓上サイズ)
• 低価格

• 半導体ウエハ、電子基板、電子部品、MEMS等
• 自動車部品
• フラットパネル用、各種ガラス、フィルム
• 光学部品
• 医療用鋼製小物

• 表面の粗さ測定

有機ELと太陽電池の測定プラットフォームPaios

�@製品概要

Paiosはたった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。

• コンパクトにまとまった高精度で高速、高解度な測定ユニット
• プローブを利用した柔軟な接触方法※試料ホルダーのカスタマイズ可
• 測定データの定義、測定、比較や保存が柔軟に行えるソフウェア
• ユーザ定義実験や柔軟なプロットが可能

• OLED
• 太陽電池
• MISキャパシター
• ユニポーラデバイス

• IV（電流電圧）特性
• 光パルスに対する過渡的光電流(TPC)応答
• 過渡的光電圧、電流
• DIT(Dark Injection Transient)
• インピーダンス分光
• 電圧パルス
• Dark-CELIV、光CELIV、他
• 電流-電圧-発光特性
• TEL（過渡的EL)

Paios製品サイト

耐久試験測定器Litos

Litosは、太陽電池やOLED(LED)の寿命を測定する先進のシステムです。4つの気密性耐久試験室に配置された最大32のストレスチャンネルで構成されています。各サンプル用に個別の温度(および照射)制御があります。高度に制御された実験環境内での広範なストレス測定技術(ハードウェア)と完全に自動化された劣化分析のためのLitosとPaiosとのインターフェース(ソフトウェア)がありますので、デバイス劣化の挙動を研究することができます。

• 顧客のサンプルレイアウトに合わせてカスタマイズ可能なデザイン(各システムで複数のレイアウトが可能)
• モジュール式：複数のシステムをまとめて接続
• 雰囲気制御機器に対応
• 自動制御とパラメータ抽出のためのユーザーフレンドリーなソフトウェア
• 仕様
  　湿度センサーを備えた4つの独立した気密室に最大32個のデバイス
  　最大電圧 10 V
  　最大電流 20 mA/チャンネル
  　温度制御 0 - 150°C
  　サンプルサイズ 最大2インチ

• OLED
• 太陽電池

Paiosと組み合わせて、デバイスの完全な特性評価を自動的に繰り返し実行できます。

• J-Vカーブ
• 過渡測定(CELIV、DLTS、TPV、TPCなど)
• インピーダンス分光/ CV
• IMPS / IMVS(太陽電池用)
• 温度の関数としての測定

Litos製品サイト