測定機器情報

散乱、表面反射、輝度/色度/分光、配光、ビームプロファイル、表面形状、膜厚など、光学に関する幅広い測定器を取扱っております。

カテゴリ 測定分野 製品(↓詳細はクリック) 製品特長
照明系 散乱測定 定量化、品質評価
分光測定 2D分光、高精度
非照明系 受光測定 リアルタイム測定、広波長域
形状測定 微細、高精度
高精細、コンパクト
膜厚測定 高速、高精度
薄膜測定 高精度、広波長域
干渉計 画像湾曲最小化
有機 電気特性、分光
配光、分光
耐久試験

こんなお困りごとありませんか?

  • シミュレーションと実測の結果が一致せずお困りの方
  • シミュレーションをより高い精度で行いたい方
  • 製品/試作品の表面品質や光学性能の定量評価を行いたい方

取扱い測定機器

表面反射アナライザーRA-532H

@製品概要

RA-532Hは商品表面の質感を定量化するために5つの指標(光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度、BRDF)を一括測定するコンパクトな測定器です。測定器に搭載されている観測カメラを用いると評価ポイントの位置合わせも容易に行えるため、測定から結果までを短時間で行えます。

A主な特長

  • 観測カメラ搭載で、測定箇所を観測しながら測定可能
  • 1回の測定で、光沢度、ヘイズ、写像性、拡散度の4つの指標+2次元のBRDFを一度に出力可能
  • キヤノン独自指標によりメタリックフレークや塗装色の影響による、絶対値がオフセットする欠点を回避。像鮮明性を判定可能
  • 鏡面から完全拡散面まで幅広い対象物を測定可能

B利用用途

  • 印刷物
  • ディスプレイ
  • 塗装面
  • 自動車塗装面やコーティング面
  • フィルム

C測定項目

  • 光沢度
  • ヘイズ
  • 写像性
  • 拡散度
  • BRDF(20°/60°)

RA-532H製品資料

2D分光放射計

@製品概要

SR-5100は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を有した2D分光放射計です。
機器校正に光のトレーサビリティを確立した光源を使用し、高精度な輝度・色度の精度保証を実現しています。
500万画素に及ぶ高解像度で170億cd/m2までの高輝度分光特性を1nm毎で評価することが可能で、多様な製品の品質向上に貢献できる光計測機です。
また、SR-5100で得られる物体の分光特性は、物体の反射光の評価やシミュレーションに活用できます。
測定対象はマイクロ/ミニLEDディスプレイ、各種材料、化粧品、繊維染織物、景観など多岐にわたり、幅広い業種・用途にてご利用頂けます。

A主な特長

  • 高解像度(画素数2448×2048)、高輝度分光測定(170億cd/m2)。
  • スポットタイプの分光放射計の性能を踏襲した2D分光放射計。
  • 光のトレーサビリティのとれた光源を使用した校正を実施。
  • ハイブリッドな測定方式を搭載(分光方式とXYZフィルタ方式)。
  • 測定の後処理が可能な標準ソフトウェアを付属

B利用用途

  • LCD、OLED、QD、レーザー、マイクロLEDの輝度、色度、分光特性評価
  • 自動車のメータパネルや内外装照明の配光、分光特性評価
  • LED照明、OLED照明の輝度、色度、分光特性評価
  • 室内や屋外における景観全ての物体の分光スペクトル評価
  • 繊維染織物の分光特性評価
  • 肌のシミや色素沈着などのスキンケア評価
  • フィルムやガラスコーティングのムラ、干渉縞計測
  • 病理組織の染色状態の解析や定量化評価

C測定項目

  • 分光特性
  • 輝度
  • 色度

SR-5100製品資料
製品ラインナップ

大口径・高出力対応ビームプロファイラLaseView-LHB

@製品概要

LaseView-LHBは測定する大口径ビームをスクリーンに照射し、スクリーンからの散乱光を後方からCCDカメラで撮影することにより、大口径ビームの測定を可能にしております。特殊なスクリーンを採用することで、100 W/cm2以上の高強度ビームの直接入射を可能にし、高い分解能と感度均一性を実現した測定器です。レーザーをはじめ様々な用途のプロファイルを瞬時に確認する事ができます。

A主な特長

  • ビームを受ける大口径スクリーンを採用
  • スキャニングするレーザーなどを測定可能
  • 波長域が可視〜赤外(〜1700nm)まで対応可能(※カスタム対応)
  • 多段LEDのパルス発光評価

B利用用途

  • レーザーやLEDなどの光源
  • 光ファイバー
  • レーザープロジェクタのスキャン評価
  • 回折レーザー光

C測定項目

  • ビームプロファイル/広がり角の測定
  • ビームの経時変化/品質測定

LaseView-LHB製品資料

3D表面形状測定システムProfilm3D

@製品概要

Profilm3Dは、垂直走査白色干渉法と位相シフト干渉法を組み合わせ、ナノレベルの精度で粗さ・段差などの表面形状を非接触で測定するシステムです。XY自動ステージおよびオプションの対物レンズを用いる事により、目的のエリア、サイズで測定が行えます。高精度の白色干渉方式の測定システムでありながら低価格を実現しています。

A主な特長

  • ナノレベルの高い精度とスピーディーな測定
  • 50nm-10mmの3次元形状を測定
  • 光干渉の原理を用いた非接触測定
  • マウス操作でオペレーションが容易
  • 10倍レンズ使用時2mm角のワイドな視野
  • デジタルズーム併用で様々な測定条件に対応
  • コンパクト(卓上サイズ)
  • 低価格

B利用用途

  • 半導体ウエハ、電子基板、電子部品、MEMS等
  • 自動車部品
  • フラットパネル用、各種ガラス、フィルム
  • 光学部品
  • 医療用鋼製小物

C測定項目

  • 表面の粗さ測定

光学式三次元表面プロファイラー smartWLI シリーズ

@製品概要

GBS社(本社:ドイツ)の光学計測機器 光学式三次元表面プロファイラーは、三次元表面性状の国際規格ISO25178-604で定義されるCSI(垂直走査低コヒーレンス干渉法)に準じた製品です。
高解像度カメラ、GPUを用いた高速演算処理を活用し、高精細・高スループットな非接触三次元表面性状測定を実現します。
高いフレキシビリティを持つ計測ヘッドは測定対象物に適したカスタム仕様を可能にし、様々なアプリケーションでの豊富な導入実績があります。

A主な特長

  • GPU(NVIDIAR等)の採用による高スループットを実現
  • 高精細カメラ(5M@86Hz)orハイスピードカメラ(2.28M@170Hz)の選択可能
  • 解析ソフトとして業界標準のMountainsMapR(Digital Surf社)を採用
  • 自由度の高いシステム導入を実現した小型ヘッド(210mm × 58mm × 105mm、2kg)
  • 5mmまでのスキャニングを可能にする電動モーター走査の選択可能
  • 2種の測定モードを標準搭載

B利用用途

  • マイクロレンズアレイ
  • 結晶欠陥の検出プロセス
  • (自動車エンジンの)シリンダー内壁測定
  • マイクロエレクトロニクス

C測定項目

  • 表面の粗さ測定

smartWLI シリーズ製品資料

顕微分光膜厚計 OPTM series

@製品概要

OPTM seriesは、顕微分光を用いた微小領域での絶対反射率測定により、高精度な膜厚・光学定数解析が可能な装置です。
各種フィルムやウェーハ、光学材料などのコーティング膜の厚みや多層膜を非破壊・非接触で測定できます。

A主な特長

  • 顕微分光で高精度な絶対反射率測定(多層膜厚、光学定数)
  • 微小領域(スポット径 φ3㎛〜)での測定が可能
  • 紫外・可視・近赤外など用途に応じて分光器の選択が可能
  • 1ポイント1秒以内の高速測定

B利用用途

  • レンズ
  • FPD用光学フィルム
  • 半導体 加工フィルム
  • 自動車用 積層フィルム
  • バリアフィルム

C測定項目

  • 絶対反射率測定
  • 膜厚解析
  • 光学定数解析(n:屈折率、k:消衰係数)

OPTM series製品資料

OPTM製品サイト

分光膜厚測定システムFシリーズ

@製品概要

Fシリーズは光の干渉を利用した反射率分光方式の非接触膜厚測定システムです。
膜厚測定器本体には光源と分光器が内蔵されています。光源からの光がステージ上の測定サンプルに照射され、測定サンプル表面からの反射光と境界面からの反射光とが分光器に入り、二つの反射光が干渉して生じた干渉スペクトラムを基に膜厚を解析します。
小型ながら高速かつ短時間で測定できるように設計されています。

A主な特長

  • シングルポイント膜厚測定システム:透明、半透明の膜の厚みをワンクリックで簡単に測定可能
  • 顕微鏡式膜厚測定システム:紫外(200nm〜)や赤外(〜1700m,)に対応のモデルもあり(汎用顕微鏡にも対応可能)
  • 自動マッピング膜厚測定システム:自動でウエハーの複数のポイントを測定可能

B利用用途

以下のような物に使用される薄膜
  • 半導体
  • フラットパネル
  • フィルム
  • レンズ(ヘッドライト、メガネ、など)
  • 医療器具(ステント、注射針、など)

C測定項目

  • 膜厚、屈折率、反射率
  • 透過率(オプション)

有機ELと太陽電池の測定プラットフォームPaios

@製品概要

Paiosはたった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。

A主な特長

  • コンパクトにまとまった高精度で高速、高解度な測定ユニット
  • プローブを利用した柔軟な接触方法※試料ホルダーのカスタマイズ可
  • 測定データの定義、測定、比較や保存が柔軟に行えるソフウェア
  • ユーザ定義実験や柔軟なプロットが可能

B利用用途

  • OLED
  • 太陽電池
  • MISキャパシター
  • ユニポーラデバイス

C測定項目

  • IV(電流電圧)特性
  • 光パルスに対する過渡的光電流(TPC)応答
  • 過渡的光電圧、電流
  • DIT(Dark Injection Transient)
  • インピーダンス分光
  • 電圧パルス
  • Dark-CELIV、光CELIV、他
  • 電流-電圧-発光特性
  • TEL(過渡的EL)

Paios製品サイト

輝度配光スペクトル測定器Phelos

@製品概要

PhelosはOLEDのスペクトルを広範囲の角度で自動で測定することが出来ます。発光効率を計算したり、偏光特性の測定・解析により、デバイス内部の発光分子などのパラメータ情報を得ることが出来ます。またPhelosはスタンドアローンの測定器として、或いはPaiosの電気測定プラットフォームと接続して使用することも出来ます。

A主な特長

  • Phelosによる測定とSetfosによるシミュレーションを簡単に統合可能
  • 放射スペクトルの角度変化から、エミッタ分子の向きと位置の導出
  • 実験とシミュレーションを組み合わせてデバイスの内部での振舞いを分析
  • 光学マイクロキャビティ放射モデルとの統合による測定結果のシミュレーション

B利用用途

  • OLED

C測定項目

  • 効率測定:EQE、Lm/W、Cd/A(luminous efficacy)
  • 角度ごとのスペクトル・色座標
  • IVL(電流電圧輝度)特性
  • 光ルミネセンス
  • 偏光

Phelos製品サイト

耐久試験測定器Litos

@製品概要

Litosは、太陽電池やOLED(LED)の寿命を測定する先進のシステムです。4つの気密性耐久試験室に配置された最大32のストレスチャンネルで構成されています。各サンプル用に個別の温度(および照射)制御があります。高度に制御された実験環境内での広範なストレス測定技術(ハードウェア)と完全に自動化された劣化分析のためのLitosとPaiosとのインターフェース(ソフトウェア)がありますので、デバイス劣化の挙動を研究することができます。

A主な特長

  • 顧客のサンプルレイアウトに合わせてカスタマイズ可能なデザイン(各システムで複数のレイアウトが可能)
  • モジュール式:複数のシステムをまとめて接続
  • 雰囲気制御機器に対応
  • 自動制御とパラメータ抽出のためのユーザーフレンドリーなソフトウェア
  • 仕様
     湿度センサーを備えた4つの独立した気密室に最大32個のデバイス
     最大電圧 10 V
     最大電流 20 mA/チャンネル
     温度制御 0 - 150°C
     サンプルサイズ 最大2インチ

B利用用途

  • OLED
  • 太陽電池

C測定項目

Paiosと組み合わせて、デバイスの完全な特性評価を自動的に繰り返し実行できます。

  • J-Vカーブ
  • 過渡測定(CELIV、DLTS、TPV、TPCなど)
  • インピーダンス分光/ CV
  • IMPS / IMVS(太陽電池用)
  • 温度の関数としての測定

Litos製品サイト

フィゾー型 レーザー干渉計 Apre Sシリーズ

@製品概要

米国 アプレ社が製品化したフィゾー型レーザー干渉計。
光学部品の製造プロセスを進化させ、現在から未来に渡る計測ニーズに対応。
精密加工部品の表面形状、中間空間周波数凹凸成分の測定にも効果を発揮、高品質の計測を実現する最新鋭レーザー干渉計です。

A主な特長

  • 回折限界までのイメージ分解能の向上
  • 画像湾曲(フォーカス方向誤差)の最小化
  • 画像歪み(水平方向誤差)の低減
  • 干渉計内部のリトレースエラーを最小化

B利用用途

  • カメラレンズ(球面レンズの曲率半径測/光学性能測定)
  • 光学平面基板
  • 各種光学プリズム
  • 硝材のホモジニティ(光学的均質性)
  • SiWF/マスク基盤表面等

C測定項目

  • 光学反射面の粗さ・歪みの測定

Apre Sシリーズ製品資料

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