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RSoftとCODE Vの連携解析機能紹介・体験セミナー
〜光学設計時の課題に対する電磁光学的手法導入による解決〜

本セミナーでは、光学設計評価およびエンジニアリング用プログラムCODE Vと電磁光学解析ソフトウェアRSoftの連携解析機能をご紹介し、実際にソフトウェアを起動して連携解析を行う手順をご体験いただけます。
連携解析により互いの機能・解析手法を補完し合うことで、従来、個々のソフトウェアだけでは扱うことのできなかった問題へのシミュレーションの適用や、高い精度での解析が可能となります。

以下のような課題をお持ちのお客様は是非参加ご検討ください!

  • CODE Vで解析を行っていて、デバイスの小型化が進むにつれ実測と合わないことが増えてきたが、原因が回折や干渉の影響によるものなのか良く分からない。
  • 電磁光学ベースの手法を用いて回折光学格子を設計していて、それらを光学系に組み込んだ場合の全体的な評価を行いたいが、実現するには非現実的なマシンスペックと解析時間が必要となってしまう。

日程・お申し込み

参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。
※キャンセル待ちをご希望の方はお問い合わせください。

開催概要

  東京 大阪
開催場所 東京本社
セミナールーム
西日本支社
セミナールーム
定員 20名 18名
参加費 無料
対象者 CODE V/RSoft製品をご利用中、またはご検討中の方

アジェンダ

    第一部
  • はじめに
  • 電磁光学解析が必要となるケースとは?
  • 電磁光学解析ソフトウェアRSoft製品の概要
  • 連携機能の概要
    第二部
  • RSoft製品でのモデリング(実習形式)
  • CODE Vで読み込むデータの生成(実習形式)
  • CODE Vでの連携解析の実行(実習形式)
  • その他の適用例のご紹介

 


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