DQPSK変調：OSNRの関数としてのBER曲線

DQPSK、RZ-DQPSK、CSRZ-DQPSKの各変調方式に対して感度解析を行います。受信器で測定したビット・エラー率対OSNR特性が得られます。解析は、Karhunen-Loewe級数展開に基づいた準解析的なBER評価器で行われます。

ツール OptSim
キーワード DQPSK変調, DQPSK modulation, BER曲線, BER curve, OSNR, RZ-DQPSK, CSRZ-DQPSK

詳細

詳細（PDF：英文）を閲覧する

 



光学ソリューション 多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご提供いたします。

光学設計解析ソフトウェア「CODE V」
プロジェクター、カメラ、光ディスク、医療機器、計測機器、光通信、半導体機器
照明設計解析ソフトウェア「LightTools」
LED　ディスプレイ、照明、医療機器、計測機器、カメラ、半導体機器
自動車用照明設計ソフトウェア「LucidShape」
ヘッドランプ、車内照明
光デバイス/システム設計解析ソフトウェア「RSoft」
光ファイバ、レーザ、光部品、光半導体、光通信システム
光学散乱測定器
簡易から、高精度散乱測定器までご提供
耐久試験測定器「litos」
太陽電池、OLED
有機EL・太陽電池シミュレータ「Setfos」
太陽電池、有機EL、薄膜、LED、VCSEL
大面積半導体デバイスシミュレータ「laoss」
太陽電池、有機EL
太陽電池・有機EL測定プラットフォーム「paios」
太陽電池、有機EL
輝度配光スペクトル測定器「phelos」
OLED
光学分野エンジニアリングサービス
光学設計の全工程をサポート　　
顕微分光膜厚計 OPTM series
膜厚測定、nk測定、非破壊、非接触