Paiosサンプル測定キャンペーン(無料)

2017年4月17日から6月30日までの期間、Paiosのサンプル測定を無料で行います。
是非この機会にPaiosの測定をお試しください。
こちらより申込みください。

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Paiosでは、有機ELや有機薄膜太陽電池で求められるIVL特性やインピーダンス分光、Photo-CELIV、ダークインジェクションなど多岐にわたる実験を簡単に実行でき、これらのデバイスにおいて重要な物性値を得ることができます。
さらに有機デバイスシミュレーションソフトSetfosを組み合わせることで、測定だけでは得ることのできない物性値を見積もることも可能です。

主なPaiosの測定項目

  • 電流-電圧-発光特性(IVL特性)
  • 光パルスに対する過渡的光電流(TPC)応答
  • 過渡的光電圧
  • DIT(Dark Injection Transient)
  • Dark-CELIV、Photo-CELIV
  • インピーダンス分光
  • TEL(過渡的EL)
  • Charge Extraction
  • IMPSとIMVS(Intensity Modulated Photocurrent/Photovoltage Spectroscopy)
  • CELIV-OTRACE(Open circuit corrected TRAnsient Charge Extraction)
  • MELS(変調エレクトロルミネッセンス分光)

Paiosに関する詳細は、「製品情報」をご覧ください。

今回のPaiosサンプル測定キャンペーンでは、お客様にデバイスをお持ち頂きまして、実際の測定の様子を見て頂きながら測定作業を行います。
所要時間は下記の通りです。

  • Paiosの概要紹介 … 30分
  • サンプル測定 … 30〜90分

※測定にあたってのお願い※

  • 上記のサンプル測定時間を超過すると、有償での対応となる場合がございます。
  • 測定項目により、測定時間は異なります。
  • 測定するサンプルにつきましては詳細を事前にご相談ください。

サンプル測定のお申し込みは、こちらよりお願いします。
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