過去の出展情報

過去の出展イベント情報を掲載しています。

2019年

OPIE'19

日時 2019年4月24日(水)〜26日(金)
会場 パシフィコ横浜
主催 一般社団法人 OPI協議会
出展製品 光学設計評価プログラム CODE V
照明設計解析ソフトウェア LightTools
自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
高精度散乱測定器:REFLET
小型簡易散乱測定器:Mini-Diff V2
高速簡易散乱測定器:Mini-Diff VPro
表面反射アナライザー:RA-532H
高速ニアフィールド配光測定システム:GP-7
2D分光放射計:SR-5000

第11回 オートモーティブワールド2019

日時 2019年1月16日(水)〜18日(金)
会場 東京ビッグサイト 【E55-17】設計・開発ソリューションゾーン
主催 リード エグジビションジャパン 株式会社
出展製品 自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
夜間運転照明環境シミュレーションソフトウェア LucidDrive
照明設計解析ソフトウェア LightTools
光学設計評価プログラム CODE V
光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
高精度散乱測定器:REFLET
小型簡易散乱測定器:Mini-Diff V2
高速簡易散乱測定器:Mini-Diff VPro
表面反射アナライザー:RA-532H
高速ニアフィールド配光測定システム:GP-7
2D分光放射計:SR-5000

2018年

第10回 オートモーティブワールド2018

日時 2018年1月17日(水)〜19日(金)
会場 東京ビッグサイト【E51-9】設計・開発ソリューション ゾーン
主催 リード エグジビション ジャパン 株式会社
出展製品 自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
夜間運転照明環境シミュレーションソフトウェア LucidDrive
照明設計解析ソフトウェア LightTools
光学設計評価プログラム CODE V
光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
有機EL・太陽電池シミュレータ Setfos
高精度散乱測定器:REFLET(ルフレ)
小型簡易散乱測定器:Mini-Diff(ミニディフ)
表面反射アナライザー:RA-532H
高速ニアフィールド配光測定システム:GP-7
2D分光放射計:SR-5000

2017年

第27回 ファインテックジャパン

日時 2017年4月5日(水)〜7日(金)
会場 東京ビッグサイト
ブース番号 東2ホール MEMS技術ゾーン【E45-49】
主催 リード エグジビション ジャパン 株式会社
関連製品 光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
光学設計評価プログラム CODE V
照明設計解析ソフトウェア LightTools
有機EL・太陽電池シミュレータ Setfos
自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
有機ELと太陽電池のための革新的な測定プラットフォーム Paios
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff
FPD自動検査システム FPiSシリーズ

2016年

OPJ EXPO

日時 2016年10月31日(月)〜11月2日(水)
会場 筑波大学東京キャンパス文京校舎
主催 応用物理学会
関連製品 光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
光学設計評価プログラム CODE V
照明設計解析ソフトウェア LightTools
自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape

第77回応用物理学会秋季学術講演会

日時 2016年9月13日(火)〜16日(金)
会場 朱鷺メッセ 新潟コンベンションセンター
主催 応用物理学会
関連製品 光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
有機EL・太陽電池シミュレータ Setfos
有機ELと太陽電池のための革新的な測定プラットフォーム Paios
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff

赤外線アレイセンサフォーラム2016

日時 2016年7月29日(金)
会場 立命館大学大阪いばらきキャンパス
主催 立命館大学
関連製品 光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
光学設計評価プログラム CODE V
照明設計解析ソフトウェア LightTools
高精度散乱測定器 REFLET

第26回 ファインテック ジャパン〜フラットパネル ディスプレイ 技術展〜

日時 2016年4月6日(水)、7日(木)10:00〜18:00
2016年4月8日(金)10:00〜17:00
会場 東京ビッグサイト 東3ホール【E44-1】
主催 リード エグジビション ジャパン 株式会社
関連製品 自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
光学設計評価プログラム CODE V
照明設計解析ソフトウェア LightTools
光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
有機デバイスシミュレータ Setfos
有機ELと太陽電池のための革新的な測定プラットフォーム Paios
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff
高精度散乱測定器 REFLET
FPD自動検査システム FPiS
フリッカ・応答性測定システム flickn
イルミネーションキー検査システム KBiS
フラットパネルディスプレイ光学式自動検査ソリューション AOI

第63回 応用物理学会春季学術講演会

日時 2016年3月19日(土)〜21日(月)9:30〜18:00
2016年3月22日(火)9:30〜12:00
会場 東京工業大学 大岡山キャンパス 屋内運動場
主催 応用物理学会
関連製品 光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
有機デバイスシミュレータ Setfos
有機ELと太陽電池のための革新的な測定プラットフォーム Paios
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff

第8回オートモーティブ ワールド

日時 2016年1月13日(水)、14日(木)10:00〜18:00
2016年1月15日(金)10:00〜17:00
会場 東京ビッグサイト 西展示棟1F 設計・開発ソリューションゾーン
小間番号【W4-3】
主催 リード エグジビション ジャパン株式会社
関連製品 自動車用照明設計ソフトウェア LucidShape
照明設計解析ソフトウェア LightTools
光学設計評価プログラム CODE V
光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
有機デバイスシミュレータ Setfos
有機ELと太陽電池のための革新的な測定プラットフォーム Paios
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff

 


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