製品情報
Paiosは、たった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。
概要
10種類以上の計測技術
CELIV(Charge Extraction with Linearly Increasing Voltage)やインピーダンス分光など豊富な計測技術を備えています。
photo-CELIV実験では、速い電荷キャリアの移動度は解析的な公式によって見積もることが出来ます。電流を積分することで、電荷キャリア密度を見積もることが出来ます。
インピーダンス分光では、弱い正弦交流電圧を印加し、また周波数領域における電流測定により、数種の周波数に対して測定することができます。
その他にも10種類以上の測定が可能です。
続きはこちら（計測技術一覧へ）
研究スピードの向上
様々な装置ごとに個別の設定を行い、更に多くの測定を行うのは非常に時間がかかります。Paiosでは、クリック1回という最小作業で数百もの測定が可能です。
デバイスの直接比較
Paiosを使えば、(付属する)測定ソフト上で異なるデバイスから得たデータを直接比較できます。最も物理的効果を示す実験を見つけ出す際には非常に便利です。
一貫性のあるデータ取得
全ての測定が短時間で実行されるため、測定対象のデバイスの性質は変わらないという前提で測定できます。例えば、接触(接点)抵抗は、全ての実験を通じて同じであるということです。
物理現象を考えましょう
-測定システムではなく
Paios は、直感的で簡単に測定できるように設計されています。更に、Paiosでは測定範囲内で自動的に多くのパラメータを使用できます。そのため、あなたはもっと重要なことを考える時間をもつことができます。
画面イメージ
分かりやすいインターフェース
ご自身のニーズに応じて実験を設計できます
柔軟性
所望のプロットを定義できます
デバイスを直接比較
Paios測定ソフト上で直接比較し、時間を節約できます
デモンストレーション
デモをご希望の場合はご連絡下さい。あなたのデバイス上でテストケースを実行し、Paiosの持つパワーと柔軟性を実感頂けます。
お問い合わせ
開発元Fluxim社
開発元Fluxim社のサイトです。
開発元Fluxim社(英語)
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Fluxim News Letter 2018(1)
Fluxim News Letter 2018(2)
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Fluxim News Letter 2017(2)
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Fluxim News Letter 2016 Summer
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