製品情報

Paiosは、たった1クリックでインピーダンス分光やPhoto-CELIV、ダークインジェクション、IV特性など多岐にわたる実験を瞬時に実行します。一貫性のある詳細な測定データを取得し、結果をソフトウェア上で直接比較すれば、研究スピードを加速できます。

概要

10種類以上の計測技術

CELIV(Charge Extraction with Linearly Increasing Voltage)やインピーダンス分光など豊富な計測技術を備えています。
photo-CELIV実験では、速い電荷キャリアの移動度は解析的な公式によって見積もることが出来ます。電流を積分することで、電荷キャリア密度を見積もることが出来ます。
インピーダンス分光では、弱い正弦交流電圧を印加し、また周波数領域における電流測定により、数種の周波数に対して測定することができます。
その他にも10種類以上の測定が可能です。
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画面イメージ

分かりやすいインターフェース

ご自身のニーズに応じて実験を設計できます

柔軟性

所望のプロットを定義できます

デバイスを直接比較

Paios測定ソフト上で直接比較し、時間を節約できます