特長

  • エリプソメーターにはない厚膜測定、絶対反射率測定を実現
  • 極薄膜1nm〜厚膜92µmまで測定可能なラインナップ
  • 非接触・非破壊測定
  • 紫外〜可視光〜近赤外に対応できるラインナップ
  • 1ポイント1秒以内の高速測定
  • エリアセンサーによる安全機構
  • 初めての方でも光学定数解析が可能な解析ウィザード
  • 測定シーケンスをカスタマイズできるマクロ機能を搭載
  • 各種カスタマイズに対応

 


お問い合わせ

Ansys®、及びその他すべてのANSYS, Inc.の製品名は、ANSYS, Inc.またはその子会社の米国およびその他の国における商標または登録商標です。
多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご提供いたします。
3次元光学解析ソフトウェア「Ansys Speos」
ヘッドランプ、車内照明、空間照明、医療機器、カメラ
VRソリューション「Ansys VRXPERIENCE」
可視化、車載システム評価(ADASセンサー、ドライビングシミュレーター、ヘッドランプ)
フォトニクス解析ソフトウェア「Ansys Lumerical」
ナノ光デバイス、光半導体、レーザー、光ファイバ、光システム
耐久試験測定器「Litos」
太陽電池、OLED