測定項目

絶対反射率測定

透明基板でも裏面の反射を除去して測定できるので、高精度な絶対反射率を測定できます。

膜厚・膜質測定

光干渉法では膜が薄くなるほどに反射率の変化が小さくなります。
紫外域での測定なら極薄膜1nm程度でも測定できます。
さらに、偏光・変角無しでも膜質解析、膜厚解析が可能です。

光学定数nk解析

膜厚測定に必要な光学定数(n : 屈折率、k : 消衰係数)を解析できます。
極薄膜、金属薄膜に関わらず高精度な結果を解析できます。

 


お問い合わせ

Ansys®、及びその他すべてのANSYS, Inc.の製品名は、ANSYS, Inc.またはその子会社の米国およびその他の国における商標または登録商標です。
多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご提供いたします。
3次元光学解析ソフトウェア「Ansys Speos」
ヘッドランプ、車内照明、空間照明、医療機器、カメラ
自動運転車シミュレーション「Ansys AVxcelerate」
ADASセンサー、ドライビングシミュレーター、ヘッドランプ
フォトニクス解析ソフトウェア「Ansys Lumerical」
ナノ光デバイス、光半導体、レーザー、光ファイバ、光システム
光学設計ソフトウェア「Zemax OpticStudio」
運転支援カメラ、携帯電話/パソコン用カメラ、航空機用外部照明、ヘッドライト、レーザプリンタ
耐久試験測定器「Litos」
太陽電池、OLED