測定項目

絶対反射率測定

透明基板でも裏面の反射を除去して測定できるので、高精度な絶対反射率を測定できます。

膜厚・膜質測定

光干渉法では膜が薄くなるほどに反射率の変化が小さくなります。
紫外域での測定なら極薄膜1nm程度でも測定できます。
さらに、偏光・変角無しでも膜質解析、膜厚解析が可能です。

光学定数nk解析

膜厚測定に必要な光学定数(n : 屈折率、k : 消衰係数)を解析できます。
極薄膜、金属薄膜に関わらず高精度な結果を解析できます。

 


お問い合わせ

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多種多様な光デバイスの設計評価に役立つツールをご提供いたします。
3次元光学解析ソフトウェア「Ansys Speos」
ヘッドランプ、車内照明、空間照明、医療機器、カメラ
VRソリューション「Ansys VRXPERIENCE」
可視化、車載システム評価(ADASセンサー、ドライビングシミュレーター、ヘッドランプ)
フォトニクス解析ソフトウェア「Ansys Lumerical」
ナノ光デバイス、光半導体、レーザー、光ファイバ、光システム
耐久試験測定器「Litos」
太陽電池、OLED