セミナー・イベント
有機EL開発のリードタイム短縮を実現！Fluxim製品紹介セミナー ～大型パネルの評価から複合測定評価まで～
有機EL開発において性能劣化や、新たな材料の探索、大型パネル化への対応が求められますが、膨大なデータの収集・試験環境の構築には多くの時間と費用を要します。また、製品競争力強化のためにも開発のリードタイム短縮がますます求められます。
Fluxim製品はこれらのニーズに応える、デバイス設計、測定評価環境を提供しております。
本セミナーでは開発元Fluxim社のスタッフより、最新の事例とともに有機EL開発ソリューションをご紹介します。測定器については実機でのデモも実施いたします。 また、当日ご参加いただいた方への特典としてサンプル測定サービス（無償）をご提供いたします。セミナー中の入退出も可能ですので、ご都合に合わせて是非ご来場ください。
- 受講料
- 無料
日程・お申し込み
お申し込みに関する注意事項
下記の場合には、セミナーご参加をお断りさせて頂く場合がございます。 ご理解の程お願い致します。
＊ベンダー様、競合企業様
＊個人(Gmailなどフリーメール)でお申込みの方
開催概要
| 日程 | 2023年12月11日（月）10:00～17:00（受付開始 9:40） |
|---|---|
| 会場 | アキバプラザ 6F セミナールーム5（東京、秋葉原） https://www.fsi.co.jp/akibaplaza/map.html |
| 定員 | 20名 |
| 参加費 | 無料（事前登録制） |
| 講演 | Fluxim社（講演は英語で行います） |
| 参加者特典 | サンプル測定サービス（無償）：（仕様は別途相談） |
講演プログラム
| 開催時間 | 講演内容 |
|---|---|
| 10:00 – 10:05 | ご挨拶 |
| 10:05 – 11:15 | 有機ELの光学及び電気特性シミュレーション （関連製品：setfos） |
| 11:30 – 12:00 | 有機ELディスプレイおよび有機EL照明などの大型パネルのシミュレーション （関連製品：Laoss） |
| 12:00～13:45 | お昼休憩 （測定器実機の閲覧および技術スタッフへの質疑応答を実施します） |
| 13:45 – 14:30 | 有機EL材料および有機ELデバイスの角度発光スペクトル測定 （関連製品：Phelos） |
| 14:45 – 16:00 | 有機ELの光電気特性測定 （関連製品：Paios） |
| 16:15 – 17:00 | 有機ELの安定性評価、寿命測定 （関連製品：Litos） |
講演概要
有機ELの光学及び電気特性シミュレーション
Setfosは、電荷注入から光の取り出しまで、有機ELデバイスのシミュレートが可能で、簡単に分析し問題箇所を改善できます。
- Setfos Drift-diffusionモジュールを使用して、電荷輸送および再結合、励起子のダイナミクスをシミュレーション
- Setfos Emissionモジュールを使用して、放射スペクトルと導波モードの寄与を分析
- Setfos Advanced Opticsモジュールを使用して、効率向上と色の安定性のための出射構造を設計
- 高度なデバイス物理学：消光、TADF、トラップ、ドーピング、電荷生成層、交流および瞬時応答、電流パルスなどの要素を考慮
本セッションで紹介予定の最新機能及び利用事例
- 3D Master equation model for excitonics
- OLED efficiency roll-off
- Transient and modulated photoluminescence
- Tandem WOLED
- Frequency modulated techniques – Impedance, IMPS, IMVS, MELS, MPLS, transient capacitance
- Current source boundary condition
有機ELディスプレイおよび有機EL照明などの大型パネルのシミュレーション
Laossは、有機ELと太陽電池セルとモジュールを含む、任意のカスタム形状の大面積半導体デバイスをシミュレーションおよび最適化する強力なソフトウェアです。また、電極内の抵抗による電圧降下を考慮します。さらに、自己発熱によるホットスポットと均一でない温度分布が考慮され、新しいLaoss光学モジュールには3D光線追跡ソルバーが組み込まれています。AMOLEDディスプレイにおける電気的および光学的なピクセルクロストークのケーススタディを紹介します。
本セッションで紹介予定の最新機能及び利用事例
- Curved LCD backlight
- IR and EL imaging
有機EL材料および有機ELデバイスの角度発光スペクトル測定
Phelosは、動作中の有機EL構造内または発光材料フィルム内の発光体の位置と向きを決定する角度発光スペクトルメーターです。すべての視野角にわたる偏光依存の電気ルミネッセンス（EL）またはフォトルミネッセンス（PL）のスペクトルを測定が行え、角度蛍光スペクトルと強度から、発光体分子の向きおよび発光双極子のプロファイルを算出することが可能です。
本セッションで紹介予定の最新機能及び利用事例
- Quantum Dot down conversion
有機ELの光電気特性測定
Paiosは、ワンクリックでさまざまな光電電気実験を瞬時に実行します。定常状態および過渡応答、周波数領域の測定タイプから選択できます。一貫性のある正確な測定データを取得し、Fluxim Characterization Suite（CS）ソフトウェアで異なる実験結果を直接比較および分析することで、研究を加速できます。
- 高い一貫性のデータを取得し、モデルの検証とパラメータの抽出に適しています。
- 物理学に集中し、残りの部分はPaiosにおまかせください。
- 測定技術には、JVL、インピーダンス分光法（C-f、C-Vなど）、TEL、T-SCLCなどが含まれています。
本セッションで紹介予定の最新機能及び利用事例
- Junction temperature
- OLED efficiency roll-off
- Perovskite LEDs
有機ELの安定性評価、寿命測定
Litosは、高度な有機ELおよび太陽電池の安定性分析装置です。4つの気密性のある耐候室に分散された最大32の並列ストレスチャネルにより、各有機ELピクセルのストレス条件（駆動電流/電圧、温度、照明、大気）を個別に制御し、各有機ELピクセルのJVLデータと発光スペクトルを確認できます。完全な自動化とPaiosとのインターフェースの可能性により、高速劣化と詳細な劣化分析のための系統的な測定を組み合わせることができます。
本セッションで紹介予定の最新機能及び利用事例
- Accelerated Lifetime Testing
- Traps in TADF OLEDs
- Influence of common electrodes
その他の光学トピックセミナー講演一覧
以下よりその他に講演を予定している一覧をご確認頂けます。