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薄膜光学製品に対する光学特性測定例のご紹介
近年、ディスプレイがいかに綺麗で見やすいかが非常に高いレベルで要求されています。
そのため光学フィルムやコーティング膜で代表される光学製品の微小な薄さの管理への厳しさが高まっています。
しかし、大塚電子株式会社の製品群があればこの悩みを解消できます。
本セミナーでは「分光計測」、「偏光計測」、「分光膜厚計測」の3種類をご紹介します。
「分光計測」: MCPDシリーズやLCFシリーズがあれば試作から製造ラインまで分光測定に広く対応できます。
「偏光計測」: RETSシリーズでは各種偏光特性を幅広く測定できます。
「分光膜厚計測」: OPTMシリーズでは反射分光法で膜厚測定を実現しています。
薄いものや広い波長帯に対応しているため、様々な製品に対応できます。
※本セミナーは2020年開催の「測定ソリューションWEBセミナー2020〜フィルム・コーティング・光源の測定に〜」と同一の内容になっております。
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日程・お申し込み
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お申し込みに関する注意事項
下記の場合には、セミナーご参加をお断りさせて頂く場合がございます。 ご理解の程お願い致します。
＊ベンダー様、競合企業様
＊個人(Gmailなどフリーメール)でお申込みの方
開催概要
| 開催形態 | Zoomを用いたWEBセミナー形式での開催となります。 |
|---|---|
| 主催 | サイバネットシステム株式会社 |
| 共催 | 大塚電子株式会社 様 |
| 視聴料 | 無料 (WEB事前登録制) |
| 定員 | 80名 |
| 注意事項 | ・各セミナーの録音・録画は一切禁止とさせていただいております。 ・申込者以外の第三者への視聴URLの転送や共有はご遠慮ください。 ・各セミナーの終了時刻は、講演内容により多少前後する場合がございます。あらかじめご了承ください。 |
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その他の光学トピックセミナー講演一覧
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