セミナー・イベント
Shack-Hartmann方式による高速波面収差計測
カメラの超高画素化や顕微鏡の高解像度化などが進み、レンズの品質・性能は、日々高い要求精度を求められています。また、近年ではレーザー加工装置の光源や集光レンズ品質による影響を波面収差にて定量化する要望がございます。
今回は従来の計測手法である干渉計と比較した際のメリットや波面センサ（PWSシリーズ）の特長や導入事例などをご紹介致します。
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開催概要
| 主催 | サイバネットシステム株式会社 |
|---|---|
| 共催 | パルステック工業株式会社 様 |
| 受講料 | 無料 (WEB事前登録制) |
| 注意事項 | 本セミナーの録音・録画は一切禁止とさせていただいております。 また、第三者への視聴URLの転送や共有はご遠慮ください。 |
推奨視聴環境
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