パラメータの最適化、複数同時解析のクラスタ化、スキャン解析を行うツールMOST

MOSTは、RSoft 製品のデバイス設計ツールを利用して全自動スキャン解析とパラメータの最適化を容易に行えます。

主な特長

  • RSoft 製品のツールに完全に統合されたインターフェース
  • 複雑な設定が可能なパラメータ・スキャン機能
  • クラスタ設定により並列計算が可能
  • Brent法(root finding、minimization)、Simplex法、Powell法、遺伝子アルゴリズム法(genetic algorithm)などの、1次元/多次元の最適化アルゴリズムを提供
  • 問題によって最適なアルゴリズムを選択可能
  • C++によるDLLまたはPythonモジュールで、新しいアルゴリズムを追加することが可能
  • 結果はDataBROWSERとWinPLOTにより、分類・統合した表示や比較検討が可能