ファウンドリPDKを用いたファブレスSiフォトニクス製造

現状の問題

シリコンフォトニクスでは1つのチップ内に変調器、スプリッター、スポットサイズコンバーターなどの複数の光デバイスが存在するため、光IC全体のパフォーマンスを評価する際には従来のデバイスシュミレーターでは解析が困難です。また、製造設備を持たない企業では検討ができないといった問題があります。

使用ツール
光デバイス設計ソフトウェア RSoft

キーワード

波動光学的解析、公差解析・製造

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