～量産時の歩留まり解析ソリューション～シリコンフォトニクス製造時の特性ばらつきの解析

こんなことで困っていませんか？

シリコンフォトニクスを構成する要素機能部品の特性はウエハ間やプロセス間でばらつきが生じるため、最終的に得られる平均的な特性値や歩留まりは通常のパラメータスキャンの手法では求めることが難しく、誤差要因になりうる複数のパラメータに対し誤差分布を与えて解析する必要があります。

使用ツール

※内容の詳細は、下記ボタンより資料ダウンロード頂けます。

その他のソリューション・事例一覧（検索）は、こちら

光学に関するお悩みごとはありませんか？

サイバネットでは、光学受託設計・解析、システム開発、光学に関する教育・コンサルティングなど、幅広いサービスをご提供しております。
詳細はこちら！光学分野エンジニアリングサービス