ナノインプリントの構造推定ソリューション

こんなことで困っていませんか？

  • 問題提起① 作成したナノインプリント構造のパラメータを光学測定データから推定したい
  • 問題提起② 欠陥による散乱分布への影響や検出方法を検討したい

使用ツール
光デバイス設計ソフトウェア　RSoft

※内容の詳細は、下記ボタンより資料ダウンロード頂けます。

この資料をダウンロードする

その他のソリューション・事例一覧（検索）は、こちら

光学に関するお悩みごとはありませんか？

サイバネットでは、光学受託設計・解析、システム開発、光学に関する教育・コンサルティングなど、幅広いサービスをご提供しております。
詳細はこちら！光学分野エンジニアリングサービス

 


お問い合わせ