Optical Coherence Tomography Enabling Non Destructive Metrology of Layered Polymeric GRIN Material
光干渉断層法による層状高分子GRIN材質の非破壊計測法

Panomsak Meemon^1,5, Jianing Yao¹, Kye-Sung Lee¹, Kevin P. Thompson^1,2, Michael Ponting^3,4, Eric Baer⁴, Jannick P. Rolland¹

¹The Institute of Optics, University of Rochester,
²Synopsys Inc.,
³PolymerPlus LLC,
⁴CaseWestern Reserve University,
⁵School of Laser Technology and Photonics

光学設計評価プログラム CODE V

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