Optical Coherence Tomography Enabling Non Destructive Metrology of Layered Polymeric GRIN Material
光干渉断層法による層状高分子GRIN材質の非破壊計測法

Panomsak Meemon1,5, Jianing Yao1, Kye-Sung Lee1, Kevin P. Thompson1,2, Michael Ponting3,4, Eric Baer4, Jannick P. Rolland1

1The Institute of Optics, University of Rochester,
2Synopsys Inc.,
3PolymerPlus LLC,
4CaseWestern Reserve University,
5School of Laser Technology and Photonics

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光学設計評価プログラム CODE V

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