京都大学 川上様
本研究の目的は、近接場光学顕微鏡(SNOM)を用いたナノ分光法によりInGaN 量子井戸発光層における微視的視点からの発光機構を解明することである。マルチモード近接場光学顕微鏡を用い、ダイナミックな特性の可視化を目指している。発光を検出する外部光学系の最適な設計を、LightToolsで行った。
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