CODE V を用いた偏光測定装置の設計 (2003年度)

株式会社ジェネシア 池田 様

偏光測定装置とは光源の偏光状態を知るための測定器です。その偏光状態を媒介にすることで様々な情報を取得することが可能です。たとえば、光学薄膜の膜厚、屈折率、吸収量(エリプソメータ)、ガラス基板(レンズ)内の内部応力(ひずみ計)、液体中の分子/抗体の濃度(SPR装置)、分子の温度/配光ゆらぎ(分子回転分光器)、宇宙塵の組成、大きさ、分布(天体偏光測定器)などです。ここでは天体用偏光測定器の設計事例について紹介します。

使用ツール
光学設計評価プログラム CODE V

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