有機ELソリューションセミナー

WEBセミナー(無料)

2019年6月18日に開催しました、有機EL関連のシミュレーションソフトウェアや測定器の開発で10年以上の実績があるスイスのFluxim社によるセミナーです。
有機ELの最新技術と課題を取り上げ、その解決方法としてFluxim社製品の最新機能や活用方法をご提供します。
例えば、有機ELの電気的・光学的解析、大型パネルの熱問題、AMOLEDのクロストークなどの課題や、インピーダンス分光、配光分布、素子の耐久性などの測定に対して、5つのFluxim社製品を使ったソリューションをご紹介します。
※本セミナー講演及び資料は、すべて英語になっています。予めご了承ください。

本セミナーでご紹介する製品

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開催概要

主催 サイバネットシステム株式会社
視聴料 無料
対象 有機EL関連技術者(製造/装置/材料)
内容
  1. 【Setfos】OLEDの光学的・電気的シミュレーション  110分
  2. 【Laoss】OLED ディスプレイや照明パネルの大面積化に伴う影響の解析 55分
  3. 【Paios】OLEDや有機半導体デバイスの光学的・電気的特性の先進的測定器 45分
  4. 【Phelos】光学的ダウンコンバージョンフィルムやOLED材料・デバイスに対しての角度輝度分光測定器 30分
  5. 【Litos】有機発光ダイオードや太陽電池の総合的な耐久性解析装置 20分

推奨視聴環境

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アブストラクト

【Setfos】OLEDの光学的・電気的シミュレーション
Fluxim社
Beat Ruhstaller
Setfosは、OLEDデバイスの電荷注入から光取り出しに至るまでのシミュレーションを行える先進的なツールです。GUI操作により、OLEDの解析や最適化を簡単に行うことができます。また、以下のことが可能になります。
 ・Drift-diffusionモジュールを使った電荷輸送と再結合、励起子ダイナミクスのシミュレーション。
 ・Emissionモジュールを使った発光スペクトルや導波モード寄与の分析。
 ・Advanced Opticsモジュールを使った効率向上と色安定性のための光取り出し構造設計。
高度なデバイス物理
クエンチング、TADF、トラップ、ドーピング、電荷発生層、ACおよび過渡応答
【Laoss】OLED ディスプレイや照明パネルの大面積化に伴う影響の解析
Fluxim社
Beat Ruhstaller
Laossは、カスタム形状の大面積半導体デバイス(OLED、PVセル、モジュール)の電極内の電圧降下を考慮してのシミュレーションや最適化を行うための強力なソフトウェアです。熱解析モジュールではホットスポットや不均一な温度分布の原因となるジュール熱(自己発熱)が考慮されます。新しい光学モジュールには3Dレイトレーシングソルバーが組み込まれています。AMOLEDディスプレイにおける電気的および光学的な画素のクロストークに関する事例研究を示します。
【Paios】OLEDや有機半導体デバイスの光学的・電気的特性の先進的測定器
Fluxim社
Simon Züfle
Paiosは、多種多様な光学的・電気的な測定をワンクリックで簡単に行うことができ、定常状態、過渡状態、周波数領域の測定タイプから選択が可能です。モデルの検証とパラメータ抽出に適した信頼性の高い正確なデータを測定できますので、Fluxim Characterization Suite(CS)ソフトウェアでさまざまな実験結果のデータを直接比較したり分析したりすることで、研究をスピードアップできます。
※測定技術には、JVL、インピーダンス分光法(C-f、C-V、…、MELS)、TEL、T-SCLCが含まれます。
【Phelos】光学的ダウンコンバージョンフィルムやOLED材料・デバイスに対しての角度輝度分光測定器
Fluxim社
Simon Züfle
Phelosは、エレクトロルミネッセンス(EL)、またはフォトルミネッセンス(PL)スペクトルの偏光依存性をすべての視野角で測定することによって、OLEDスタック内、またはエミッタフィルム内のエミッタの位置や配向を決定する角度ルミネセンス分光計です。発光スペクトルや強度の角度依存性は、エミッタ分子の配向と発光層内の発光双極子のプロファイルの指紋のようなものです。これらの重要な材料パラメータを決定するため、Phelosは【シミュレーションソフトウェアSetfos】と連携しています。
【Litos】有機発光ダイオードや太陽電池の総合的な耐久性解析装置
Fluxim社
Simon Züfle
Litosは、OLEDや太陽電池の耐久性を解析する装置です。4つの気密耐候性チャンバに分けられた最大32の並列の負荷チャネルは、負荷条件(駆動電流/電圧、温度、照明、雰囲気)を個々に制御し、各OLED画素についてJVLデータおよび発光スペクトルを監視することが可能です。Paiosインタフェースとの完全な自動化により、加速エージングと詳細な劣化分析を行う体系的な測定が結び付けられます。

 


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