特別セミナー(無料)

【大阪開催】ミニ測定ソリューションセミナー2019

今年より新たに取り扱い始めた光学測定器、測定ソリューションをご紹介する特別セミナーです。
本セミナーでは、実際に物を作った際の評価を行うための測定器や、シミュレーションの更なる精度向上に役立つ測定器についてご紹介いたします。
また、ご参加いただいた方は、ご希望に応じて後日個別デモを行うことも可能です。

〜こんな方におすすめ〜
  • 試作品や製品の目視による官能評価を定量評価に置換えたい
    (表面形状/膜厚を測定したい)
    (製造したレンズの光学性能を評価したい)
  • シミュレーション精度を上げたい
    (光源のニアフィールドデータを測定して活用したい)

日程・お申し込み

参加ご希望の日程をクリックしてください。申し込みフォームが表示されます。

※参加お申し込みの受付は終了しました。

※東京での開催もございます。

開催概要

開催場所 西日本支社 セミナールーム
主催 サイバネットシステム株式会社
共催 キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様、大塚電子株式会社 様
定員 12名
参加費 無料(WEB事前登録制)
測定対象 材料(レンズ、光学プリズム、フィルム、コーティング)、照明/光源
備考 ご来場される際は、申込時に送付する受講票と、お名刺を1枚ご用意ください。

タイムテーブル(予告なく変更になる場合があります)

13:30〜13:35 連絡事項/開会挨拶
13:35〜14:20 光学部品向け光学測定アプリケーションのご紹介<配光測定>(大塚電子株式会社 様)
14:20〜15:05 光学部品向け光学測定アプリケーションのご紹介<膜厚測定>(大塚電子株式会社 様)
15:05〜15:20 休憩
15:20〜16:20 光学干渉計測製品のご紹介(キヤノンマーケティングジャパン株式会社 様)
16:20〜16:30 質疑応答/閉会挨拶

アブストラクト

光学部品向け光学測定アプリケーションのご紹介 <配光測定><膜厚測定>
大塚電子株式会社 様
【新製品】

ニアフィールド配光装置RayHunterシリーズのご紹介と、マルチチャンネル分光器MCPDシリーズを用いた反射率、透過率、リタデーション測定、顕微分光膜厚計OPTMシリーズによる薄膜膜厚測定等、光学レンズ、DOE等の光学部品向けの光学測定アプリケーションをご紹介いたします。

光学干渉計測製品のご紹介
キヤノンマーケティングジャパン株式会社 計測分析機器部 様
【新製品】

2019年より新たに取扱いを開始した干渉計測製品Äpre(アプレ)社製 高精細レーザー干渉計、GBS社製 光学式三次元表面プロファイラーの製品特長とカスタマイズ導入例をご紹介します。
また、光学干渉計をすでにお持ちの方向けにも、既設干渉計のアップグレードサービス(修理・点検・移設・改造・トレーニング)についてご紹介します。

 


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