FPiS-HP

FPD AOIシステムFPiSにより検査員個人差や環境差を受けず正確かつ定量的な評価を短時間で実現できます。サブピクセルレベルの測定を一括で行うことによりお客様の技術革新をサポートいたします。

製品概要

主にR&Dに適した製品です。細かく測定することを意識した高精度タイプとなっております。

主な特徴

  • サブピクセルごとの明度評価。最大で4K2Kまで一括測定
  • 欠陥ピクセルの検出と正確な位置の特定
  • 面内のエリアごとの輝度均一性を評価
  • サブピクセル間のばらつき補正係数の算出とフィードバック
    (オプション機能:輝度補正の検討)
  • サブピクセル単位での欠陥検査
    (輝点、滅点、線欠陥、点欠陥)
  • ムラ強調表示
  • 簡易ガンマ評価
  • 測定対象や環境にあわせたアライメントツールの提供が可能

サブピクセルレベル評価

取得したサブピクセルごとの相対輝度を元に欠陥と全てのアドレスを検出


ムラ強調表示

均一性評価

簡易ガンマ評価

クロスセクション簡易確認

 


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