DiffractMOD 3.2の販売を開始

3次元異方性のある誘電体多層薄膜の解析が可能なRCWA法解析ソフトウェア
2010年9月13日
詳細はPDFをご参照ください

主な特徴

  • 3次元異方性材料の解析が可能
  • 任意の位置と大きさで設定したモニタにより、各フィールド、パワー、吸収の計算が可能
  • ポインティング・ベクトルの表示が可能
  • 複数のモニタを設定可能
  • MOSTクラスタと組み合わせて、多変数パラメータ・スキャンの計算を並列化し超高速に実行可能
  • 太陽電池ユーティリティと組み合わせて、セル効率、J-Vカーブ、量子効率等の計算が可能
  • RSoftの各ツールと組み合わせて使用可能