Jannick P. Rolland, Cristina Dunn, Kevin P. Thompson
ゼルニケ多項式は製造した光学面の特性を確認する方法として好ましいことが知られています。ここから、そのうち、組み立てた光学系におけるアライメント状態の表現方法として使われるようになりました。ここではゼルニケ多項式係数の画角依存性を分析的に明らかにします(今まではアパチャー依存性によってのみ特徴付けられていました)。本論文では画角依存性を位置合わせした回転対称光学系において、より完全な表現方法を示します。また、位置合わせずれのある光学系に対してこれを適用します。このゼルニケ多項式の大幅な拡張は光学設計、製造、組み立て、検査における高性能光学系の特性を分析する重要なツールとなります。