〜全サブピクセル輝度と欠陥の測定〜 OLEDディスプレイ高精細/高速測定ソリューション

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課題


Q. サブピクセル単位での発光評価に従来と異なった検査や測定方法を行いたいけど、最適な方法がわからない。。。

解決

A. 有機ELの発光メカニズムはこれまでのLCDと異なることから、サブピクセル単位での発光評価が必要であり、従来と異なった検査、測定方法を求められています。

サイバネットシステムでは高画素CCDカメラを使い、新しい処理手法で複数のテストパターンを用いて画面全体を一括測定するソリューションをご提案いたします。

使用ツール
欠陥検査測定システム FPiS

 

 


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