美薄なディスプレイの創出にCYBERNETの光学ツール

LightTools

3Dテクスチャー/2Dパターン

3Dテクスチャーは、多数の任意形状を任意のパターンで配置する機能です。 2Dパターンは、いくつかの形状のドットを任意のパターンで配置する機能です。 これらの機能を使用する事により、導光板のシボやドットパターンを簡単に作成できます。

最適化機能

LightToolsの最適化機能には、希望するディスプレイの輝度分布または照度分布が得られるように導光板のシボやドットの数またはサイズを自動調整し、最適なパターンを(密度分布)を求めるための特別なプログラムが用意されています。

実測散乱(BSDF)データの直接読み込み

散乱シート表面の粗さを実際に作成する事は困難ですが、LightToolsでは測定した散乱分布をシート表面に直接読み込む事ができます。 これにより、高精度な解析が可能となります。

散乱シートライブラリ

LightToolsには、市場でよく使用されている標準的な散乱シートの実測散乱(BSDF)データを集めたライブラリが用意されており、バージョンアップ毎に更新されます。
散乱分布のデータがない、散乱分布を測定できる環境がない、という方でも、希望する散乱データがライブラリに登録されていれば、高精度な解析を行う事ができます。

FPiS

欠陥解析

4K2K、有機ELディスプレイなどの高精細ディスプレイでは、サブピクセルが微小化し人の眼の分解能よりも1サブピクセルのサイズが小さいものがあり、目視による欠陥検査が困難となります。FPISでは、このような問題を解消します。

製造ラインでの自動検査

欠陥サブピクセル、そのサブピクセルのアドレス出力、輝度均一性の自動検査が可能です。従来の面輝度計のような分割測定をせず測定可能のため、短い測定時間で所望のデータを取得できます。

Mini-Diff

散乱測定

手頃な価格と場所をとらない扱いやすいサイズで、簡単に散乱測定をすることが可能です。また、Mini-Diffの測定データをLightTools上に簡単に取り込むことができます。

setfos

有機EL-オプティカル

転送行列法とフレネル理論をベースに、有機ELなどの発光薄膜光学系における発光スペクトルや角度強度分布を計算できます。さらに、モード解析や消散パワー計算は、有機ELの光取り出し効率の改善に役立ちます。

有機EL-エレクトロニック

電荷のドリフト-拡散や励起子の発生モデルを扱うことができます。過渡応答やI-V特性、デバイス内部の電荷分布や励起子分布をシミュレーションできます。

太陽電池-光吸収

光のインカップリングから光吸収スペクトル、励起子の生成、p/n接合での励起子の解離、電荷移動までの太陽電池のプロセスを解析するのに必要な機能を用意しています。 電荷分布や電界分布、光電流-バイアス電圧特性などを出力できます。

高度な解析

ユーザーフレンドリーなGUIを採用して、バッチ処理モード、最適化設計、フィッティングシミュレーションなどの高度な解析機能も簡単に使いこなすことができます。

上記関連プロダクト

LightTools
照明設計解析ソフトウェア LightTools
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FPIS
FPD欠陥検査システム FPIS
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Mini-Diff
小型簡易散乱測定器 Mini-Diff
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Setfos
有機ELデバイスシミュレータ setfos
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お問い合わせ

オプティカル事業部
TEL : 03-5297-3703 / FAX : 03-5297-3646
e-mail : optsales@cybernet.co.jp

 


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