FPDの発光欠陥を短時間で測定 Flat Panel Display Inspection System (KBiS)

Display Week 2017 KBiSとは?
Key Board Inspection System(KBiS)を活用することで、イルミネーションキー搭載製品の検査にかかる工数の低減、検査員の個人差に影響されない正確かつ定量的な検査環境の構築を実現し、開発製品の品質向上と開発から製造に至るコスト削減に貢献いたします。

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製品概要



イルミネーションキーなどの製品製造現場では、検査工程において、各文字、記号の輝度均一性を確認する検査が行なわれております。従来の検査方法では、利用されている測定器の仕様上、文字や記号を複数回に渡り測定するため、検査時間を多く費やしております。このことから、検査工程における工数の低減が課題となっております。
また、検査時においては、歪みのない平面な環境が求められます。そのため、高度な技術を要する治具の位置調整作業がその都度必要となるケースもあり、この治具の製作、設置にかかる工数の低減も求められております。
昨今では主に中国でのOEM生産が主流となりつつありますが、日本から海外への製造工程における支援にも、多くの工数が発生しております。

「KBiS」は、「KBiS」のソフトウェアのプログラムにより、従来の測定器が持つ仕様の課題を解消するものです。これにより、測定回数を1回に低減することができます。また、あらかじめ登録した文字を検知する文字認識機能により、従来必要とされていた治具による位置調整作業が不要となります。
本システムは検査にかかる工数の低減、検査員の個人差に影響されない正確かつ定量的な検査環境の構築を実現し、開発製品の品質向上と開発から製造に至るコスト削減に貢献いたします。

利用用途

製造工程における輝度測定の高精度化・簡略化

  • PC発光キーボード
  • 携帯機器の発光キーパッド
  • 車載メーターパネル

主な特長

  • 発光部分(各キー)の輝度値を取得可能
  • 様々なタイプのキー配列を登録可能
  • 合否基準を任意設定可能
  • ボタン一つで測定〜合否判定が可能
  • 管理者/オペレーターモードの切り替えが可能
  • 測定物を設置するための高度な治具は不要

測定手順・項目

KBiS測定・検査フロー

測定項目

  • 各キーの輝度値
    • 最大、最小輝度値
    • 輝度均一性
  • しきい値による合否判定
    • 不合格箇所のみの抽出
  • 数値出力(CSVファイル)

システム構成

  • 測定部(PC接続用USBケーブル含む)
  • 計測解析用ソフトウェア

システム構成略図

計測解析用ソフトウェア画面


しきい値による合否判定

出展イベント

Display Week 2017

日時 2017年5月23日〜25日
会場 Los Angeles, California (USA)
主催 Society For Information Display(SID)
関連製品 フラットパネルディスプレイ光学式自動検査ソリューション AOI
FPD AOIシステム FPiS-HS
開発用FPD評価システム FPiS-HP
FPDムラ補正システム FPiS-HPS
ガンマ・WB高速測定調整システム FPiS-GW
フリッカ高速自動調整システム flickn for flicker
時間応答性評価システム flickn for response
イルミネーションキー検査システム KBiS

お問い合わせ

AOI製品 お問い合わせフォーム

サイバネットシステム株式会社
OM事業本部 光計測器事業部
TEL 03-5297-3527 / FAX 03-5297-3646
E-mail omsg@cybernet.co.jp

 



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