FPiSとは？
Flat Panel Display Inspection System（FPiS）を活用することで、目視では困難な高精細ディスプレイの欠陥を、移動ステージを使用すること無く検出でき、検査員の個人差に影響されない定量的な評価ができます。
- 2013/01/15
- FPiS（ Flat Panel Display Inspection System ）サイトを新規開設しました。
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製品概要
FPD全面の輝度均一性や画素欠陥の評価は、目視検査または移動ステージを使用したCCDカメラでの検査が一般的でした。本システムでは、目視では困難な高精細ディスプレイの欠陥を、移動ステージを使用すること無く検出可能、検査員の個人差に影響されない定量的な評価ができるようになります。シンプルな構成で低価格を実現しているため、検査コストを削減できます。
製品シリーズ内「高精度版」を使用した場合、ディスプレイ内の全サブ画素1個1個の輝度※1を測定することも可能で、画素毎の輝度ばらつきを評価できます。
※1単色での相対輝度
利用用途
FPD製造ラインでの自動検査
- セル、オープンセル、モジュール、製品と様々なレベルでの検査が可能です。
- 中間検査、出荷検査、受け入れ検査
ディスプレイの研究・開発
- 高精細ディスプレイの欠陥検査
- OLED、LED、プラズマディスプレイではLCDとは異なり画素毎に自発光するため、画素毎の輝度にばらつきが生じます。そのばらつきの評価、校正用パラメータの生成が可能です。
主な特長
- 欠陥画素を検出し、その正確なアドレスを出力
- 1台のカメラでディスプレイ全体を撮影
- ディスプレイとカメラの位置合わせが容易
- 全サブ画素1個1個の輝度を短時間で測定可能（高精度版）
測定、解析、出力機能
欠陥画素（滅点、輝点、線欠陥）の検出
- 欠陥画素の正確なアドレス出力
- 欠陥検出結果の一覧表出力
FPD全画面の輝度分布測定
- 各階調検査
- クロストーク検査
- 全サブ画素のビットマップ表示
- 断面グラフ表示（グラデーション評価）
輝度均一性評価
- 画面全体のグローバル評価
- メッシュ分割でのローカル
サブ画素1個1個の輝度測定（高精度版）
- ビットマップ表示、出力（BMPファイル）
- 数値出力（CSVファイル）
システム構成
システム構成略図
計測解析用ソフトウェア画面
製品シリーズ
高精度版
Full HD画素までのFPDの全サブ画素を高精度で評価- ディスプレイの全サブ画素1個1個の輝度を短時間で測定可能
- ディスプレイ全体を一度に撮影
- 分割測定（ステージでカメラを動かしての撮影）は必要なし
- 全サブ画素の輝度から欠陥画素の検出を行う
- 全サブ画素の輝度から輝度均一性を評価
- 高速版と同等の輝度分布測定機能
高速版
Full HD画素までのFPDの全サブ画素を短時間で評価- 高速に欠陥画素を検出
- 画面全体の輝度分布測定
- 階調検査
- クロストーク検査
- 断面グラフ表示（グラデーション評価）
- 輝度均一性評価
- 画面全体
- メッシュ分割
オプション
- ディスプレイ全面の色度分布測定
- マイクロスコープによる拡大検査
- 欠陥画素を検出した位置にマイクロスコープを自動的に移動し、欠陥画素を詳細に観察
- 光オシロスコープによる光強度の時間変化測定
- 液晶応答性検査
- フリッカ評価
- アクティブシャッタータイプ3Dディスプレイのクロストーク評価
- サブ画素毎の輝度補正（高精度版）
- OLED、LED、プラズマディスプレイの画素毎の輝度ばらつきを補正して表示
お問い合わせ
サイバネットシステム株式会社
オプティカル事業部 営業部
TEL 03-5297-3405 / E-mail optsales@cybernet.co.jp
