過去の出展イベント情報

過去、出展した出展イベント情報を掲載しています。

2013年

第23回 ファインテック ジャパン

ご紹介 大型ディスプレイからタブレット端末などの中小型ディスプレイにいたるまでサイズを問わずディスプレイの高精細化が進んでいます。 当展示会では、高精細ディスプレイの開発から生産現場に役立つ製品をご紹介します。

「出展者による製品・技術セミナー」で講演を行います!
4月12日(金) 15:00〜16:00【B(東4・5・6ホール側)】
 『FPD検査システムFPiSによる高精細FPDの自動検査と測定 』

日時 2013年4月10日(水)〜12日(金) 10:00〜18:00(最終日は17:00まで)
会場 東京ビックサイト
主催 リード エグジビション ジャパン 株式会社
関連製品 FPD欠陥検査システム FPIS
有機デバイスシミュレータ Setfos
有機デバイスシミュレータ Lighttools
光デバイス/光通信システム設計解析環境 RSoft
3Dディスプレイ用クロストークモニター DXM43D

第30回 エレクトロテストジャパン

ご紹介 同展示会はオプティカル事業部初出展となります!
注目製品として、研究開発から生産検査用途でご利用頂ける測定器「Flat Panel Display Inspection System(FPIS)」を実機展示致します。
【注目製品】
Flat Panel Display Inspection System(FPIS)
サブピクセル欠陥、輝度分布、応答特性、フリッカなどを新しい測定手法で複数のテストパターンを用いて測定します。
イメージ写真
事前にご連絡頂ければ、お客様がご来場される時間での個別紹介や技術ディスカッションも承ります。お気軽にoptsales@cybernet.co.jpまでお問い合わせ下さい。
日時 2013年1月16日(水)〜18日(金) 10:00〜18:00 (※18日(金)のみ17:00まで)
会場 東京ビックサイト  サイバネット小間番号:東50-002
出展製品 Flat Panel Display Inspection System(FPIS)
光デバイス設計シミュレータ RSoft
照明設計解析ソフトウェア LightTools
有機デバイスシミュレータ Setfos
3Dディスプレイ用クロストークモニター DXM43D
※上記は予定につき、内容が変更される場合があります。

 


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