プレーンが複数の矩形に分かれているデータは、EMIチェックをかけるとプレーン外周チェック、基板端チェックにおいて多くの擬似エラーが発生していました。
そのような場合、プレーン合成すれば問題ありませんでしたがプレーン合成の手間がかかっていました。
複数の矩形に分けられているプレーンでも、プレーン合成せずに、1つのプレーンと見なしEMIチェックを実行できるようになりました。これにより、プレーン外周チェック、基板端チェックの擬似エラーが減りました。
チェックに時間がかかるようなデータの場合、途中で中断することができませんでした。
EMIチェックにかかる場合に、途中でキャンセルする為、キャンセルボタンをステータスバー内に追加しました。

レポートの出力ファイルサイズが大きく、またユーザ毎に出力する必要なエラー情報が異なっていました。
EMIチェック結果レポート出力項目を選択できるようになりました。
必要な項目だけ出力するようカスタマイズできます。
差動信号チェックの平行チェックにおいて、1度の許容誤差を設定しました。
これにより、擬似エラーが減少しました。
差動信号チェックにおいて、設計エラー指摘表示や対策アドバイス機能を分かりやすくしました。
解析後の部品配置検討(部品追加・移動)を簡単に行う為にメニューやコマンドボタンの配置を変更しました。
| 従来 | + 部品選択 + 右クリック + ”コピー部品を配置“を選択 | |
| 改善後 | + 部品選択 + (Ctrl+C) + (Ctrl+V) | ![]() |

部品配置コマンド、自動キャパシタ追加機能において、部品配置禁止エリアを考慮して部品配置するようになりました。
層構成の情報を解析時のパラメータに反映してほしいという要望が多くあり反映致しました。
共振解析設定において、基準プレーンをプルダウン形式で選択できるようになりました。
また、CADデータから読込んだ層構成情報をデフォルトで層構成の値に反映するようになりました。
DEMITASNXのプレーン共振解析コマンドやPI解析コマンドにおいて、より実測・実製品に解析結果を近づける為、インダクター部品(L)をモデル化して解析を行うようになりました。
また、IR Dropにおいては、インダクター部品(L)とレジスター部品(R)の両方をモデル化して解析を行うようになりました。
Windows7に対応いたしました。
インストールには、Administrator権限がないと失敗することがあります。
UAC(User Acount Control)機能をOFFにして実行してください。